| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-9页 |
| 1.2 故障注入系统概述 | 第9-10页 |
| 1.3 联合仿真概述 | 第10页 |
| 1.4 国内外研究现状及分析 | 第10-12页 |
| 1.4.1 容错性评价研究 | 第10-11页 |
| 1.4.2 故障注入研究 | 第11-12页 |
| 1.5 联合仿真环境下 RTL 级故障行为研究思路 | 第12页 |
| 1.6 本文主要工作 | 第12-13页 |
| 1.7 本文结构 | 第13-14页 |
| 第2章 联合仿真验证研究 | 第14-18页 |
| 2.1 联合仿真验证概述 | 第14-16页 |
| 2.1.1 仿真验证简介 | 第14-15页 |
| 2.1.2 SAM 模拟器简介 | 第15页 |
| 2.1.3 RTL 仿真环境简介 | 第15页 |
| 2.1.4 联合仿真验证环境架构研究 | 第15-16页 |
| 2.2 联合仿真验证环境交互方式研究 | 第16-17页 |
| 2.3 本章小结 | 第17-18页 |
| 第3章 交互模块 | 第18-28页 |
| 3.1 硬件描述语言 | 第18-19页 |
| 3.2 PLI 技术 | 第19-23页 |
| 3.2.1 PLI 技术介绍 | 第19-20页 |
| 3.2.2 PLI 应用 | 第20-23页 |
| 3.3 基于 PLI 技术的封装 | 第23-27页 |
| 3.3.1 队列操作封装 | 第23-25页 |
| 3.3.2 套接字封装 | 第25-27页 |
| 3.4 交互协议设计介绍 | 第27页 |
| 3.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第4章 事件捕获模块详细设计 | 第28-44页 |
| 4.1 访存单元事件捕获设计 | 第28-34页 |
| 4.1.1 访存单元研究 | 第28-32页 |
| 4.1.2 LDST 事件捕获模块设计 | 第32-34页 |
| 4.2 陷入逻辑单元事件捕获设计 | 第34-38页 |
| 4.2.1 TLU 结构研究 | 第34-37页 |
| 4.2.2 trap 事件捕获模块设计 | 第37-38页 |
| 4.3 快表事件捕获设计 | 第38-43页 |
| 4.3.1 MMU 研究 | 第38-42页 |
| 4.3.2 TLB 事件捕获模块设计 | 第42-43页 |
| 4.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第5章 故障注入实验及结果分析 | 第44-57页 |
| 5.1 故障注入系统设计 | 第44-49页 |
| 5.1.1 故障注入模块 | 第44-47页 |
| 5.1.2 追踪文件生成 | 第47-48页 |
| 5.1.3 统计模块 | 第48-49页 |
| 5.2 故障注入实验 | 第49-51页 |
| 5.3 故障行为统计分析 | 第51-56页 |
| 5.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 致谢 | 第62页 |