混合集成电路测试硬件电路测试板的设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题的背景来源 | 第11-12页 |
| ·混合集成电路测试的发展及国内外现状 | 第12-15页 |
| ·混合集成电路测试国外发展 | 第12-14页 |
| ·混合集成电路测试国内发展 | 第14-15页 |
| ·本课题研究的目的 | 第15页 |
| ·本文的研究内容和章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 混合集成电路测试相关技术 | 第17-29页 |
| ·集成电路测试的分类 | 第17-19页 |
| ·模拟集成电路测试 | 第17-18页 |
| ·数字集成电路测试 | 第18-19页 |
| ·混合集成电路测试 | 第19页 |
| ·混合集成电路测试的原理 | 第19-24页 |
| ·混合集成电路测试原理 | 第19-23页 |
| ·混合集成电路测试的流程 | 第23-24页 |
| ·任意波形产生技术 | 第24-26页 |
| ·测试向量技术 | 第26-29页 |
| ·测试向量的输入和输出 | 第26-27页 |
| ·格式化编码 | 第27-29页 |
| 第三章 硬件测试板平台设计 | 第29-55页 |
| ·混合集成电路自动测试仪的总体硬件架构 | 第29-31页 |
| ·测试板的硬件总体框架 | 第31-37页 |
| ·测试板的设计指标 | 第31-32页 |
| ·测试板的硬件方案设计 | 第32-35页 |
| ·测试板总体电路设计 | 第35-37页 |
| ·数字信号的产生模块 | 第37-40页 |
| ·数字产生的总体设计 | 第37-38页 |
| ·数字信号产生电路设计 | 第38-39页 |
| ·接口总线 | 第39-40页 |
| ·数字捕获模块 | 第40-43页 |
| ·数字捕获的总体设计 | 第41页 |
| ·窗口比较器的设计 | 第41-42页 |
| ·捕获存储器电路设计 | 第42-43页 |
| ·程控电源的设计 | 第43-46页 |
| ·程控电源总体设计 | 第43-44页 |
| ·程控电源电路设计 | 第44-46页 |
| ·精密测量单元的设计 | 第46-50页 |
| ·精密测量单元的设计分析 | 第47页 |
| ·精密测量单元电路设计 | 第47-50页 |
| ·模拟捕获模块设计 | 第50-55页 |
| ·模拟捕获模块总体设计 | 第50-51页 |
| ·模拟捕获电路的设计 | 第51-55页 |
| 第四章 混合集成电路测试的控制逻辑设计 | 第55-69页 |
| ·数字信号的产生逻辑 | 第56-62页 |
| ·存储器读写逻辑 | 第56-58页 |
| ·格式化编码逻辑 | 第58-62页 |
| ·数字捕获模块逻辑 | 第62-64页 |
| ·数字捕捉逻辑 | 第62-63页 |
| ·捕捉存储器读写逻辑 | 第63-64页 |
| ·精密测试单元 | 第64-66页 |
| ·模拟捕获逻辑 | 第66-67页 |
| ·程控电源逻辑 | 第67-69页 |
| 第五章 测试板电路的实际应用 | 第69-81页 |
| ·测试芯片概述 | 第69-70页 |
| ·开短路测试 | 第70-71页 |
| ·测试参数的设置 | 第71-73页 |
| ·格式化方式选择 | 第71页 |
| ·测试向量的设置 | 第71-72页 |
| ·程控电源的设置 | 第72-73页 |
| ·参考电平的设置 | 第73页 |
| ·DAC 静态参数的测试方法 | 第73-75页 |
| ·普通的测试方法 | 第73-74页 |
| ·主载波测试法 | 第74-75页 |
| ·DAC 的测试结果 | 第75-77页 |
| ·测试结果的获得 | 第75-76页 |
| ·测试结果的误差分析 | 第76-77页 |
| ·DAC 静态参数测试 | 第77-80页 |
| ·微分非线性 DNL 测试 | 第77-78页 |
| ·积分非线性 INL 测试 | 第78页 |
| ·最低有效位量值 LSB 测试 | 第78-79页 |
| ·满刻度输出 FSR 测试 | 第79页 |
| ·单调性（Monotonic）测试 | 第79-80页 |
| ·增益误差 EG 测试 | 第80页 |
| ·结果分析 | 第80-81页 |
| 第六章 结论和展望 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
