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基于投影条纹的物体三维形貌精密测量方法的研究

摘要第1-11页
Abstract第11-12页
第1章 绪论第12-22页
 §1.1 引言第12页
 §1.2 3D外形轮廓测量的需求及应用第12-14页
 §1.3 三维形貌测量技术的概况第14-17页
  §1.3.1 接触式测量方法第14页
  §1.3.2 非接触式测量方法第14-17页
 §1.4 位相测量轮廓术(PMP)第17-21页
  §1.4.1 位相测量轮廓术的基本原理第17-20页
  §1.4.2 位相测量轮廓术中的热点和难点问题第20-21页
 §1.5 本文主要工作第21-22页
第2章 利用双频投影条纹莫尔特性的相位解包裹方法第22-43页
 §2.1 引言第22页
 §2.2 常见的主值相位场解包技术第22-28页
  §2.2.1 利用相位主值场解包裹的基本原理第22-23页
  §2.2.2 常用的几种解包技术第23-25页
  §2.2.3 利用主动条纹的解包裹方法第25-28页
 §2.3 利用双频投影条纹莫尔特性的解相方法第28-43页
  §2.3.1 投影系统的构成与工作原理第28-30页
  §2.3.2 双频投影求取待测面的相位分布第30-33页
  §2.3.3 莫尔条纹级数m的确定第33-37页
  §2.3.4 减小相位误差的方法第37-38页
  §2.3.5 实验第38-43页
第3章 利用贝叶斯估计法提高相位测量精度第43-58页
 §3.1 引言第43页
 §3.2 在二维级数坐标系中利用贝叶斯估计法提高相位测量精度第43-48页
 §3.3 在三维级数坐标系中利用贝叶斯估计法提高相位测量精度第48-49页
 §3.4 贝叶斯估计法的可靠性第49-52页
 §3.5 贝叶斯估计法的特殊情况第52页
 §3.6 以长度为修正量描述方式的直观修正法第52-54页
 §3.7 实验结果第54-58页
  §3.7.1 仿真实验第54-55页
  §3.7.2 实际实验第55-56页
  §3.7.3 结论与总结第56-58页
第4章 系统标定及高度计算第58-80页
 §4.1 引言第58页
 §4.2 常用的系统标定及高度计算方法第58-64页
  §4.2.1 利用AC与h的关系标定系统再求h第59-60页
  §4.2.2 利用ΔΦ与h的关系标定系统再求h第60-64页
 §4.3 拟合参考面(或标定面)上点的位置—相位的相互关系第64-65页
 §4.4 标定系统参数的组合并求取h第65-80页
  §4.4.1 一种特殊的投影系统的标定第66-68页
  §4.4.2 标定一般投影系统的系统参数组合第68-72页
  §4.4.3 实验结果第72-78页
  §4.4.4 算法实现第78-80页
第5章 通用投影系统的仿真图制作第80-94页
 §5.1 一种特殊的投影系统的仿真图制作第80-90页
  §5.1.1 图像点理想灰度的求取第80-82页
  §5.1.2 其它影响灰度特性的因素第82-88页
  §5.1.3 仿真图示例第88-90页
 §5.2 一般投影系统的仿真图制作第90-91页
 §5.3 算法实现第91-94页
  §5.3.1 用牛顿法解关于t的单变量方程第91-92页
  §5.3.2 仿真图制作流程第92-94页
第6章 结论与展望第94-100页
 §6.1 已完成工作的总结第94-95页
 §6.2 亟需解决的问题第95-99页
  §6.2.1 充分利用双频条纹的信息以提高相位求解精度第95-98页
  §6.2.2 主动结构光迭代法第98页
  §6.2.3 莫尔条纹的检测第98-99页
  §6.2.4 进一步验证实验第99页
 §6.3 展望第99-100页
致谢第100-101页
参考文献第101-105页
附录A第105-107页
附录B第107-109页
附录C第109-111页
附录D第111-117页
附录E第117-120页

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