摘要 | 第1-11页 |
Abstract | 第11-12页 |
第1章 绪论 | 第12-22页 |
§1.1 引言 | 第12页 |
§1.2 3D外形轮廓测量的需求及应用 | 第12-14页 |
§1.3 三维形貌测量技术的概况 | 第14-17页 |
§1.3.1 接触式测量方法 | 第14页 |
§1.3.2 非接触式测量方法 | 第14-17页 |
§1.4 位相测量轮廓术(PMP) | 第17-21页 |
§1.4.1 位相测量轮廓术的基本原理 | 第17-20页 |
§1.4.2 位相测量轮廓术中的热点和难点问题 | 第20-21页 |
§1.5 本文主要工作 | 第21-22页 |
第2章 利用双频投影条纹莫尔特性的相位解包裹方法 | 第22-43页 |
§2.1 引言 | 第22页 |
§2.2 常见的主值相位场解包技术 | 第22-28页 |
§2.2.1 利用相位主值场解包裹的基本原理 | 第22-23页 |
§2.2.2 常用的几种解包技术 | 第23-25页 |
§2.2.3 利用主动条纹的解包裹方法 | 第25-28页 |
§2.3 利用双频投影条纹莫尔特性的解相方法 | 第28-43页 |
§2.3.1 投影系统的构成与工作原理 | 第28-30页 |
§2.3.2 双频投影求取待测面的相位分布 | 第30-33页 |
§2.3.3 莫尔条纹级数m的确定 | 第33-37页 |
§2.3.4 减小相位误差的方法 | 第37-38页 |
§2.3.5 实验 | 第38-43页 |
第3章 利用贝叶斯估计法提高相位测量精度 | 第43-58页 |
§3.1 引言 | 第43页 |
§3.2 在二维级数坐标系中利用贝叶斯估计法提高相位测量精度 | 第43-48页 |
§3.3 在三维级数坐标系中利用贝叶斯估计法提高相位测量精度 | 第48-49页 |
§3.4 贝叶斯估计法的可靠性 | 第49-52页 |
§3.5 贝叶斯估计法的特殊情况 | 第52页 |
§3.6 以长度为修正量描述方式的直观修正法 | 第52-54页 |
§3.7 实验结果 | 第54-58页 |
§3.7.1 仿真实验 | 第54-55页 |
§3.7.2 实际实验 | 第55-56页 |
§3.7.3 结论与总结 | 第56-58页 |
第4章 系统标定及高度计算 | 第58-80页 |
§4.1 引言 | 第58页 |
§4.2 常用的系统标定及高度计算方法 | 第58-64页 |
§4.2.1 利用AC与h的关系标定系统再求h | 第59-60页 |
§4.2.2 利用ΔΦ与h的关系标定系统再求h | 第60-64页 |
§4.3 拟合参考面(或标定面)上点的位置—相位的相互关系 | 第64-65页 |
§4.4 标定系统参数的组合并求取h | 第65-80页 |
§4.4.1 一种特殊的投影系统的标定 | 第66-68页 |
§4.4.2 标定一般投影系统的系统参数组合 | 第68-72页 |
§4.4.3 实验结果 | 第72-78页 |
§4.4.4 算法实现 | 第78-80页 |
第5章 通用投影系统的仿真图制作 | 第80-94页 |
§5.1 一种特殊的投影系统的仿真图制作 | 第80-90页 |
§5.1.1 图像点理想灰度的求取 | 第80-82页 |
§5.1.2 其它影响灰度特性的因素 | 第82-88页 |
§5.1.3 仿真图示例 | 第88-90页 |
§5.2 一般投影系统的仿真图制作 | 第90-91页 |
§5.3 算法实现 | 第91-94页 |
§5.3.1 用牛顿法解关于t的单变量方程 | 第91-92页 |
§5.3.2 仿真图制作流程 | 第92-94页 |
第6章 结论与展望 | 第94-100页 |
§6.1 已完成工作的总结 | 第94-95页 |
§6.2 亟需解决的问题 | 第95-99页 |
§6.2.1 充分利用双频条纹的信息以提高相位求解精度 | 第95-98页 |
§6.2.2 主动结构光迭代法 | 第98页 |
§6.2.3 莫尔条纹的检测 | 第98-99页 |
§6.2.4 进一步验证实验 | 第99页 |
§6.3 展望 | 第99-100页 |
致谢 | 第100-101页 |
参考文献 | 第101-105页 |
附录A | 第105-107页 |
附录B | 第107-109页 |
附录C | 第109-111页 |
附录D | 第111-117页 |
附录E | 第117-120页 |