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高功率微波对集成电路的损伤效应研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第9-14页
    1.1 研究背景和意义第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-12页
    1.3 论文工作内容和研究目的第12-13页
    1.4 文章结构安排第13-14页
第2章 HPM对半导体器件作用效应及损伤机理第14-21页
    2.1 高功率微波第14-15页
    2.2 高功率微波效应第15-16页
    2.3 HPM对半导体器件的损伤机理第16-17页
    2.4 HPM能量的耦合途径第17-18页
    2.5 HPM对电子设备系统的主要影响第18-20页
    2.6 本章小结第20-21页
第3章 电磁场问题第21-30页
    3.1 电磁场问题分析依据第21-23页
    3.2 场路理论第23-26页
        3.2.1 场路理论推导第23-25页
        3.2.2 场理论中的路概念第25-26页
    3.3 有限元法介绍第26-27页
    3.4 ADS/HFSS软件介绍第27-29页
    3.5 本章小结第29-30页
第4章 LNA的HPM效应分析方法设计第30-48页
    4.1 方法描述第30-31页
    4.2 LNA实际工程电路设计第31-42页
        4.2.1 器件选择第31-32页
        4.2.2 电路设计与仿真第32-42页
    4.3 LNA的HPM辐射效应第42-46页
        4.3.1 外部等效干扰电压源计算第43-44页
        4.3.2 LNA的HPM辐射仿真第44-46页
    4.4 本章小结第46-48页
第5章 MP3电路板的电磁敏感性分析第48-53页
    5.1 MP3电路板设计第48-49页
    5.2 仿真分析第49页
    5.3 MP3电路板实际敏感性分析第49-52页
        5.3.1 实验平台建立第49-51页
        5.3.2 实验结果第51-52页
    5.4 本章小结第52-53页
第6章 总结与展望第53-55页
参考文献第55-59页
攻读硕士学位期间发表的学术论文及其他成果第59-60页
致谢第60页

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