| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第14-15页 |
| 1.2 课题研究动态 | 第15-16页 |
| 1.3 研究内容与组织结构 | 第16-18页 |
| 第二章 UVM验证方法学 | 第18-39页 |
| 2.1 功能验证概述 | 第18-22页 |
| 2.1.1 SystemVerilog语言简述 | 第19页 |
| 2.1.2 功能验证技术 | 第19-20页 |
| 2.1.3 验证所面临的问题 | 第20-21页 |
| 2.1.4 W模型 | 第21-22页 |
| 2.2 UVM验证方法学概述 | 第22-27页 |
| 2.2.1 UVM标准类库 | 第22-23页 |
| 2.2.2 验证平台的架构 | 第23-24页 |
| 2.2.3 UVM最重要的几个特性 | 第24-27页 |
| 2.3 UVM验证流程介绍 | 第27-28页 |
| 2.4 待验证芯片介绍 | 第28-29页 |
| 2.5 AMBA总线协议 | 第29-32页 |
| 2.5.1 AHB总线的结构 | 第30页 |
| 2.5.2 AHB总线的基本时序 | 第30-31页 |
| 2.5.3 AHB总线与各模块的连接 | 第31-32页 |
| 2.6 SD卡协议 | 第32-38页 |
| 2.6.1 接口规范以及总线时序 | 第32-34页 |
| 2.6.2 数据传输过程 | 第34-35页 |
| 2.6.3 数据读写流程 | 第35-38页 |
| 2.7 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 需求分析方法和验证效率提升方案 | 第39-54页 |
| 3.1 验证需求分析方法 | 第39-45页 |
| 3.1.1 IPO需求分析---输入Input | 第39-42页 |
| 3.1.2 IPO需求分析---处理Process | 第42-44页 |
| 3.1.3 IPO需求分析---输出O（Output） | 第44-45页 |
| 3.2 验证效率提高实践 | 第45-48页 |
| 3.2.1 降低动态负载 | 第45-46页 |
| 3.2.2 仿真加速 | 第46-47页 |
| 3.2.3 性能角度考量验证环境加速 | 第47-48页 |
| 3.3 UVM平台改进方案 | 第48-53页 |
| 3.3.1 平台性能覆盖点 | 第49-50页 |
| 3.3.2 验证平台的改进方案 | 第50-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 系统级验证环境的搭建 | 第54-70页 |
| 4.1 系统验证平台的搭建 | 第54-57页 |
| 4.1.1 系统验证目录结构 | 第54-55页 |
| 4.1.2 验证方案 | 第55-57页 |
| 4.2 子模块验证平台搭建 | 第57-59页 |
| 4.2.1 SD卡模块的验证平台搭建 | 第57-58页 |
| 4.2.2 USB模块验证平台搭建 | 第58-59页 |
| 4.3 验证环境各层次模块功能 | 第59-69页 |
| 4.3.1 验证平台子模块的实现 | 第59-65页 |
| 4.3.2 验证平台的管理与通信连接 | 第65-69页 |
| 4.3.3 验证平台的工作流程 | 第69页 |
| 4.4 本章小节 | 第69-70页 |
| 第五章 验证环境调试与仿真结果 | 第70-90页 |
| 5.1 验证环境调试 | 第70-71页 |
| 5.1.1 验证环境的单独调试 | 第70页 |
| 5.1.2 验证环境与RTL代码的联合调试 | 第70-71页 |
| 5.2 系统验证流程及结果分析 | 第71-74页 |
| 5.3 SD卡验证用例提取即覆盖率分析 | 第74-83页 |
| 5.3.1 通用功能测试案例分解 | 第74-75页 |
| 5.3.2 特殊功能测试用例 | 第75-81页 |
| 5.3.3 覆盖率分析 | 第81-83页 |
| 5.4 SD卡性能分析 | 第83-87页 |
| 5.5 AHB_USB验证用例及结果分析 | 第87-89页 |
| 5.5.1 测试用例分析 | 第87-88页 |
| 5.5.2 仿真结果 | 第88-89页 |
| 5.5.3 结论 | 第89页 |
| 5.6 总结 | 第89-90页 |
| 第六章 总结与展望 | 第90-92页 |
| 6.1 总结 | 第90页 |
| 6.2 本文工作展望 | 第90-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |
| 参考文献 | 第93-96页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第96-97页 |