| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| ·两相流检测 | 第10-11页 |
| ·两相流的定义与分类 | 第10页 |
| ·两相流检测的发展方向 | 第10-11页 |
| ·电阻层析成像(ERT)技术简介 | 第11-14页 |
| ·过程层析成像(PT)技术 | 第11-12页 |
| ·电阻层析成像技术的原理与特点 | 第12-13页 |
| ·电阻层析成像技术的研究方向 | 第13-14页 |
| ·电阻层析成像系统硬件设备发展概况 | 第14-18页 |
| ·电阻层析成像测量设备的硬件构成与设备发展 | 第14-16页 |
| ·电阻层析成像测量设备新器件和新方法 | 第16-17页 |
| ·电阻层析成像测量系统数据传输方式现状分析 | 第17-18页 |
| ·本论文的主要工作与内容 | 第18-20页 |
| 第2章 嵌入式系统简介与双机系统间数据传输方式研究 | 第20-29页 |
| ·嵌入式系统简介 | 第20-24页 |
| ·嵌入式系统组成、特点与分类 | 第20-22页 |
| ·嵌入式系统的应用现状与发展趋势 | 第22-23页 |
| ·嵌入式操作系统分类 | 第23-24页 |
| ·双机系统间数据传输方式概述 | 第24-28页 |
| ·串行传输方式 | 第25-26页 |
| ·并行传输方式 | 第26-27页 |
| ·共享式存储芯片方式 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 嵌入式电阻层析成像测量系统硬件电路设计 | 第29-42页 |
| ·嵌入式电阻层析成像便携设备整体设计框架 | 第29-31页 |
| ·嵌入式处理器与操作系统选用 | 第31-35页 |
| ·ARM 芯片选用 | 第31-33页 |
| ·WinCE 系统的选用 | 第33-35页 |
| ·基于FIFO 的并行数据传输电路设计 | 第35-39页 |
| ·FIFO 芯片选型与时序分析 | 第36-37页 |
| ·基于FIFO 芯片的单片机与ARM 芯片间数据传输电路设计 | 第37-39页 |
| ·单片机与ARM 间串行数据传输电路设计 | 第39页 |
| ·ARM 核心板相关接口电路 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 WinCE 嵌入式系统内核定制与驱动集成开发 | 第42-50页 |
| ·系统内核定制 | 第43-44页 |
| ·FIFO 驱动程序开发 | 第44-46页 |
| ·WinCE 下驱动程序模型 | 第44-46页 |
| ·FIFO 驱动程序编写 | 第46页 |
| ·FIFO 驱动集成到系统内核镜像 | 第46-47页 |
| ·WinCE 重要配置文件 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 软件程序开发与调试 | 第50-65页 |
| ·单片机数据传输控制程序开发 | 第50-51页 |
| ·ERT 成像算法的嵌入式系统下移植 | 第51-54页 |
| ·成像算法移植问题分析 | 第52-53页 |
| ·LBP 算法Matlab 语言转换与数据结构修改 | 第53-54页 |
| ·WinCE 下实现图形绘制 | 第54-59页 |
| ·OpenGL ES 技术简介 | 第54-55页 |
| ·EVC 下基于MFC 的绘图 | 第55-59页 |
| ·WinCE 下应用程序开发 | 第59-62页 |
| ·应用程序开发环境 | 第59页 |
| ·WinCE 应用程序中的驱动调用方法 | 第59-61页 |
| ·应用程序编写步骤 | 第61-62页 |
| ·WinCE 下应用程序调试工具 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第6章 嵌入式电阻层析成像系统测试 | 第65-74页 |
| ·用单片机模拟双机系统间FIFO 通信测试 | 第65-67页 |
| ·WinCE 系统与单片机串口通信测试 | 第67-68页 |
| ·WinCE 系统与单片机FIFO 通信测试 | 第68-72页 |
| ·FIFO 驱动程序稳定性测试 | 第68-70页 |
| ·基于FIFO 的ERT 并行数据采集系统测试 | 第70-72页 |
| ·WinCE 下ERT 成像系统运行测试 | 第72-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 结论与展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
