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无铅电子封装中的界面反应及焊点可靠性

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-9页
第一章 引言第9-32页
   ·无铅化的发展概况第9-15页
     ·无铅化的驱动力第9-10页
     ·无铅焊料的发展第10-12页
     ·无铅材料与工艺的优化第12-15页
   ·无铅电子封装中的界面反应第15-26页
     ·SnAgCu与Cu的反应第16-21页
     ·SnAgCu与Ni的反应第21-24页
     ·界面反应中的耦合效应第24-26页
   ·无铅电子封装的可靠性第26-30页
     ·热应力对焊点可靠性的影响第26-28页
     ·电子封装的跌落可靠性第28-30页
   ·本文的研究内容与目的第30-32页
第二章 铜引线框架合金中微量元素对界面反应的影响第32-46页
   ·实验方法第32-33页
   ·实验结果第33-39页
     ·界面微观组织的演变第33-36页
     ·晶粒的三维形貌演变第36-38页
     ·固态反应中金属间化合物的生长动力学第38-39页
   ·讨论第39-44页
     ·Ni对金属间化合物形成的影响第40-42页
     ·固态反应中金属间化合物的长大第42-43页
     ·Cu3Sn的形成和长大第43-44页
   ·本章小结第44-46页
第三章 SnAgCu三明治结构焊点的液相界面反应第46-64页
   ·实验方法第46-48页
   ·实验结果第48-55页
     ·X射线衍射分析第48-49页
     ·界面金属间化合物的形貌和成分第49-51页
     ·金属间化合物晶粒的三维形貌第51-54页
     ·FeNi-SnAgCu-Cu焊点的界面反应第54-55页
   ·讨论第55-62页
     ·金属间化合物的物相分析第55-56页
     ·三元金属间化合物的形成第56-58页
     ·实验参数对界面反应的影响第58-60页
     ·三元(Cu,Ni)_6Sn5三维形貌的变化第60-61页
     ·三明治焊点中的耦合机制第61-62页
   ·本章小结第62-64页
第四章 SnAgCu三明治结构焊点的固态界面反应第64-76页
   ·实验方法第64-65页
   ·实验结果第65-71页
     ·界面微观组织的演变第65-69页
     ·界面金属间化合物的成分演变第69页
     ·金属间化合物的生长及金属层的消耗第69-71页
   ·讨论第71-74页
   ·本章小结第74-76页
第五章 SnAgCu焊点的跌落可靠性第76-93页
   ·实验方法第76-79页
     ·测试板的制备第76-78页
     ·跌落测试方法第78页
     ·分析与检测第78-79页
   ·实验结果第79-86页
     ·染色实验结果第79-81页
     ·金相分析结果第81-82页
     ·断裂路径和断裂模式第82-84页
     ·界面微观组织第84-86页
   ·讨论第86-91页
     ·PCB板表面镀层的影响第86-88页
     ·工艺条件的影响第88-91页
   ·本章小结第91-93页
第六章 SnAgCu焊点的温度循环可靠性第93-108页
   ·实验方法第93-94页
   ·实验结果第94-101页
     ·染色实验结果第94-97页
     ·金相观察结果第97-99页
     ·界面微观组织的演变第99-101页
   ·讨论第101-106页
     ·断裂机制第101-104页
     ·PCB板镀层对可靠性的影响第104-105页
     ·温度循环和跌落测试下可靠性的对比第105-106页
   ·本章小结第106-108页
第七章 全文总结及展望第108-112页
   ·全文总结第108-109页
   ·本文的创新点第109-110页
   ·下一步工作的展望第110-112页
参考文献第112-126页
发表文章目录第126-127页
致谢第127-128页
作者简历第128-129页
学位论文独创性声明第129页
学位论文使用授权声明第129页

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