| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第9-12页 |
| 1.1.1 CMOS图像传感器的发展 | 第9页 |
| 1.1.2 CMOS图像传感器的应用 | 第9-12页 |
| 1.2 课题意义 | 第12-13页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本课题研究的内容及结构 | 第14-16页 |
| 第2章 集成电路可靠性与老化的基础理论 | 第16-27页 |
| 2.1 集成电路可靠性 | 第16-17页 |
| 2.2 老化 | 第17-22页 |
| 2.2.1 HCI效应造成的老化 | 第17-18页 |
| 2.2.2 NBTI效应造成的老化 | 第18-22页 |
| 2.2.3 Latch-up效应造成的老化 | 第22页 |
| 2.3 可靠性的数学表征 | 第22-24页 |
| 2.4 可靠性筛选 | 第24-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 老炼的基本理论 | 第27-36页 |
| 3.1 老炼的前提 | 第27-28页 |
| 3.2 老炼试验的理论基础 | 第28-31页 |
| 3.3 老炼应力的确定 | 第31-32页 |
| 3.4 常用的老练筛选方法 | 第32-34页 |
| 3.5 老炼试验阶段与注意事项 | 第34-35页 |
| 3.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 V1TIX30图像传感器老炼装置设计方案 | 第36-52页 |
| 4.1 CMOS图像传感器简介 | 第36-44页 |
| 4.1.1 CMOS图像传感器基本原理 | 第36-37页 |
| 4.1.2 CMOS图像传感器性能指标 | 第37-39页 |
| 4.1.3 CMOS图像传感器的分类 | 第39-44页 |
| 4.2 CMOS图像传感器V1TIX30 | 第44-47页 |
| 4.2.1 V1TIX30的结构 | 第44-45页 |
| 4.2.2 V1TIX30主要性能指标 | 第45-47页 |
| 4.3 老炼设计方案 | 第47-51页 |
| 4.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 老炼模块的程序设计 | 第52-65页 |
| 5.1 FPGA器件选型 | 第52页 |
| 5.2 FPGA的最小系统设计 | 第52-54页 |
| 5.2.1 FPGA的供电电路设计 | 第52-53页 |
| 5.2.2 FPGA的时钟电路设计 | 第53-54页 |
| 5.2.3 FPGA的配置电路设计 | 第54页 |
| 5.3 基于FPGA的CMOS图像传感器驱动 | 第54-64页 |
| 5.3.1 V1TIX30驱动电路设计 | 第54-57页 |
| 5.3.2 V1TIX30源同步数据接口跨时钟域方案设计跨时钟域通信 | 第57-61页 |
| 5.3.3 V1TIX30时序分析 | 第61-62页 |
| 5.3.4 V1TIX30可编程逻辑驱动设计 | 第62-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第6章 老炼实验 | 第65-70页 |
| 6.1 实验内容 | 第65-66页 |
| 6.2 实验结果 | 第66-69页 |
| 6.3 本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |