数字信号控制器传导电磁敏感度的温度效应研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第12-22页 |
1.1 研究背景与意义 | 第12-18页 |
1.1.1 研究背景 | 第12-13页 |
1.1.2 国外研究现状 | 第13-16页 |
1.1.3 国内研究现状 | 第16-17页 |
1.1.4 选题依据与意义 | 第17-18页 |
1.2 论文主要工作及章节安排 | 第18-22页 |
1.2.1 论文主要工作 | 第18-19页 |
1.2.2 论文章节安排 | 第19-22页 |
第二章 DSC电磁敏感度及其温度效应机理分析 | 第22-38页 |
2.1 DSC功能特性及原理结构 | 第22-25页 |
2.1.1 GPIO模块结构及特性 | 第23-24页 |
2.1.2 ADC模块结构及特性 | 第24-25页 |
2.2 DSC电磁敏感度特性分析 | 第25-32页 |
2.2.1 传导耦合方式分析 | 第26-27页 |
2.2.2 互连线寄生参数分析 | 第27-29页 |
2.2.3 功能电路敏感度特性分析 | 第29-32页 |
2.3 DSC电磁敏感度的温度效应分析 | 第32-35页 |
2.3.1 互连线寄生参数的温度效应 | 第32-33页 |
2.3.2 MOS管输出特性的温度效应 | 第33-35页 |
2.4 本章小结 | 第35-38页 |
第三章 DSC电磁敏感度温度效应建模与仿真分析 | 第38-54页 |
3.1 电磁敏感度模型 | 第38-40页 |
3.1.1 IC电磁敏感度建模方法 | 第38-40页 |
3.1.2 DSC电磁敏感度温度效应建模方法 | 第40页 |
3.2 DSC电磁敏感度温度效应等效模型 | 第40-48页 |
3.2.1 PDN等效模型 | 第40-47页 |
3.2.2 IB等效模型 | 第47-48页 |
3.3 DSC电磁敏感度温度效应模型仿真与分析 | 第48-51页 |
3.3.1 仿真软件与仿真流程 | 第48-50页 |
3.3.2 仿真结果分析 | 第50-51页 |
3.4 本章小结 | 第51-54页 |
第四章 DSC电磁敏感度温度效应实验研究 | 第54-72页 |
4.1 测试方法与测试平台 | 第54-60页 |
4.1.1 IC电磁敏感度测试方法 | 第54-58页 |
4.1.2 DSC电磁敏感度温度效应测试平台 | 第58-60页 |
4.2 GPIO测试与分析 | 第60-64页 |
4.2.1 GPIO测试配置 | 第60-61页 |
4.2.2 PDN测试结果 | 第61-63页 |
4.2.3 IB测试结果 | 第63页 |
4.2.4 电磁敏感度测试结果与分析 | 第63-64页 |
4.3 ADC测试与分析 | 第64-68页 |
4.3.1 ADC测试配置 | 第64-65页 |
4.3.2 PDN测试结果 | 第65-66页 |
4.3.3 差分参考电压测试结果 | 第66-67页 |
4.3.4 电压转换结果 | 第67-68页 |
4.3.5 电磁敏感度测试结果与分析 | 第68页 |
4.4 DSC电磁敏感度温度效应总结 | 第68-70页 |
4.5 本章小结 | 第70-72页 |
第五章 结论与展望 | 第72-74页 |
5.1 全文工作回顾 | 第72-73页 |
5.2 下一步工作展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-76页 |
参考文献 | 第76-82页 |
作者简介 | 第82页 |