| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 测试测量技术与虚拟仪器技术的发展 | 第12-13页 |
| 1.2.2 虚拟仪器技术未来发展趋势 | 第13-14页 |
| 1.3 本文的主要内容及章节安排 | 第14-16页 |
| 2 系统总体方案设计 | 第16-24页 |
| 2.1 系统的需求分析 | 第16-18页 |
| 2.1.1 各传感器调理电路的具体性能 | 第16-18页 |
| 2.1.2 测试系统的需求 | 第18页 |
| 2.2 测试方案的选用 | 第18-19页 |
| 2.2.1 采用人工测量方式 | 第18-19页 |
| 2.2.2 设计自研硬件测试系统 | 第19页 |
| 2.2.3 设计以继电器为主的测试工装 | 第19页 |
| 2.2.4 设计以Lab VIEW为基础的测试系统 | 第19页 |
| 2.3 系统的组成与功能 | 第19-21页 |
| 2.3.1 系统的组成 | 第19-20页 |
| 2.3.2 系统的功能 | 第20-21页 |
| 2.4 方案设计 | 第21-23页 |
| 2.4.1 系统的整体方案设计 | 第21-22页 |
| 2.4.2 系统硬件的选用 | 第22-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 测试系统的硬件与软件分析 | 第24-38页 |
| 3.1 测试系统的硬件分析 | 第24-31页 |
| 3.1.1 PXI4071万用表卡 | 第24-26页 |
| 3.1.2 PXI5402信号源卡 | 第26-29页 |
| 3.1.3 PXI2575开关量卡 | 第29-31页 |
| 3.2 测试系统的软件分析 | 第31-37页 |
| 3.2.1 Lab VIEW简介 | 第31-32页 |
| 3.2.2 Lab VIEW软件平台优势 | 第32-33页 |
| 3.2.3 Lab VIEW软件的调试 | 第33页 |
| 3.2.4 仪器驱动 | 第33-37页 |
| 3.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 4 系统软件设计及优化 | 第38-63页 |
| 4.1 测试系统程序的总体设计 | 第38-39页 |
| 4.2 系统的主界面设计 | 第39-40页 |
| 4.3 测试系统的各模块程序设计 | 第40-59页 |
| 4.3.1 零位电压及纹波测试 | 第41-45页 |
| 4.3.2 定频测试及输出幅值、波形显示 | 第45-49页 |
| 4.3.3 限幅测试 | 第49-50页 |
| 4.3.4 幅值衰减测试 | 第50-54页 |
| 4.3.5 输出阻抗测试 | 第54-55页 |
| 4.3.6 报表的生成 | 第55-59页 |
| 4.4 系统设计的优化 | 第59-62页 |
| 4.4.1 输出幅值精度的提高 | 第59-61页 |
| 4.4.2 多路调理电路共地影响的分析及优化 | 第61页 |
| 4.4.3 扫频测试结果精度不高的优化 | 第61-62页 |
| 4.4.4 程序运行效率的优化 | 第62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 5 系统测试及结果分析 | 第63-71页 |
| 5.1 系统测试 | 第63-67页 |
| 5.1.1 系统的自动测试 | 第63-66页 |
| 5.1.2 系统扫频测试 | 第66-67页 |
| 5.2 系统测试结果分析 | 第67-69页 |
| 5.2.1 系统的自动测试结果分析 | 第67-68页 |
| 5.2.2 系统的扫频测试结果分析 | 第68-69页 |
| 5.3 本章小结 | 第69-71页 |
| 6 总结与展望 | 第71-73页 |
| 6.1 全文总结 | 第71页 |
| 6.2 工作展望 | 第71-73页 |
| 附录 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及所取得的研究成果 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |