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拉丁方设计在芯片规格机器视觉测量系统分析中的应用

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第8-16页
    1.1 研究背景和意义第8-9页
    1.2 国内外研究现状第9-12页
    1.3 研究内容第12-13页
    1.4 研究方法第13-16页
第二章 测量系统能力评价第16-27页
    2.1 测量系统分析概述第16-20页
        2.1.1 测量系统第16-17页
        2.1.2 测量系统的统计特性第17-20页
        2.1.3 测量系统分析第20页
    2.2 测量系统能力评价指标第20-22页
    2.3 测量系统分析中的经典试验模型第22-23页
    2.4 试验模型的参数估计方法第23-25页
    2.5 本章小结第25-27页
第三章 拉丁方试验设计第27-34页
    3.1 试验设计概述第27-29页
    3.2 拉丁方第29-31页
        3.2.1 基本概念第29-30页
        3.2.2 拉丁方的形式第30-31页
    3.3 希腊拉丁方第31-33页
    3.4 重复拉丁方第33页
    3.5 本章小结第33-34页
第四章 基于拉丁方的机器视觉测量系统能力评价方法第34-41页
    4.1 芯片长度机器视觉测量系统第34-36页
    4.2 芯片长度机器视觉系统测量系统分析中的全因子交叉模型第36-37页
    4.3 重复拉丁方方法与模型第37-40页
    4.4 本章小结第40-41页
第五章 仿真与应用第41-52页
    5.1 仿真研究第41-44页
        5.1.1 无交互作用下的仿真研究第41-42页
        5.1.2 有交互作用下的仿真研究第42-44页
    5.2 评价结果第44-47页
    5.3 改善第47-50页
    5.4 结论第50-51页
    5.5 本章小结第51-52页
第六章 总结与展望第52-54页
    6.1 论文总结第52-53页
    6.2 研究展望第53-54页
参考文献第54-58页
发表论文和科研情况说明第58-59页
致谢第59-60页

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