| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-7页 |
| 1 引言 | 第7-8页 |
| 2 器件原理 | 第8-16页 |
| ·NOR 闪存(Flash)单元概论 | 第8-9页 |
| ·快闪存储器(FLASH) 操作模式 | 第9-12页 |
| ·多级单元闪存(MLC)技术 | 第12-14页 |
| ·SCSP（堆叠式芯片）产品 | 第14-16页 |
| 3 QV（质量鉴定）测试流程 | 第16-20页 |
| ·Flash 产品测试 | 第16-17页 |
| ·QV(Qualification & Validation，质量鉴定)测试 | 第17-20页 |
| 4 QV 测试TTR（测试时间缩短）优化 | 第20-39页 |
| ·确定TTR 的可选对象 | 第20-34页 |
| ·TTR 验证实验 | 第34-37页 |
| ·TTR 验证实验结果总结 | 第37-39页 |
| 5 结束语 | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-42页 |
| 致谢 | 第42-43页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第43页 |