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介质膜光栅:光刻胶掩模占宽比和离子束刻蚀槽深的监控

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-9页
第1章 引言第9-25页
   ·课题背景和研究意义第9-12页
   ·国内外研究现状第12-22页
   ·本文主要研究内容第22-24页
 本章小结第24-25页
第2章 利用导波耦合角度实时控制光刻胶光栅的占宽比第25-43页
 本章引言第25-26页
   ·占宽比控制原理第26-33页
   ·显影监测理论分析第33-35页
   ·占宽比实时监控实验第35-41页
   ·讨论第41-42页
 本章小结第42-43页
第3章 介质膜光栅离子束刻蚀图形演变第43-58页
 本章引言第43-44页
   ·LKJ-IC-150 型离子束刻蚀机简介第44-45页
   ·介质膜光栅离子束刻蚀工艺实验第45-49页
   ·实验结果第49-57页
 本章小结第57-58页
第4章 介质膜光栅离子束刻蚀实时终点监控第58-77页
 本章引言第58页
   ·实时监测系统第58-61页
   ·槽形演变模型简化和衍射效率理论计算第61-64页
   ·离子束刻蚀实时监测结果第64-71页
   ·结果分析和实时终点判断第71-74页
   ·双波长监测结果第74-76页
 本章小结第76-77页
第5章 结论和展望第77-80页
   ·论文工作总结第77-78页
   ·光栅制作展望和下一步工作第78-80页
参考文献第80-88页
致谢第88-89页
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果第89页

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