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功率器件无铅焊料焊接层可靠性研究

摘要第1-4页
ABSTRCT第4-9页
第一章 引言第9-31页
   ·无铅焊料研究进展第9-20页
     ·铅的危害及环境问题第9-10页
     ·铅在焊料中起的作用第10页
     ·无铅化的规划及进展第10-12页
     ·一些常用无铅焊料的组成第12-14页
     ·无铅焊料的性能第14-19页
     ·无铅焊料的其他相关问题第19-20页
   ·功率器件焊接层可靠性研究概述第20-29页
     ·焊接层中的空洞第21-24页
     ·界面IMC的生长机理第24-26页
     ·热疲劳失效第26-29页
   ·本论文的主要研究内容第29-31页
第二章 焊接层内空洞对功率器件散热影响的有限元模拟第31-40页
   ·三维(3D)有限元模拟的几何模型和材料参数第32-33页
   ·网络划分和加载条件第33-36页
   ·模拟结果与讨论第36-39页
   ·本章小结第39-40页
第三章 焊接层内空洞对焊接层热冲击可靠性影响的有限元模拟第40-49页
   ·焊料的力学行为及其本构方程第40-41页
   ·粘塑性Anand木构方程第41-42页
   ·三维(3D)有限元模拟的几何模型和材料参数第42-43页
   ·加载条件和边界条件第43页
   ·模拟结果第43-47页
     ·焊料的应力应变环第43-44页
     ·焊接层内等效塑性应变的分布第44-46页
     ·SnAgCu焊料的等效塑性应变范围与塑性功第46页
     ·焊点疲劳寿命预测第46-47页
   ·讨论第47页
   ·本章小结第47-49页
第四章 焊接层内空洞的形成第49-58页
   ·实验、样品制备和检测第49-52页
     ·样品简介第49-50页
     ·试验过程第50页
     ·回流曲线第50-51页
     ·器件和焊盘的表面氧化第51页
     ·热重分析第51页
     ·空洞率的计算第51-52页
   ·试验结果和讨论第52-56页
     ·回流时间对空洞率的影响第54页
     ·镀层种类对空洞率的影响第54页
     ·器件及焊盘氧化对空洞率的影响第54-55页
     ·锡膏厚度对空洞率的影响第55页
     ·比较SnAgCu和SnPb两种焊料对空洞率的影响第55-56页
   ·本章小结第56-58页
第五章 焊接层内的空洞对焊接层热冲击可靠性的影响第58-76页
   ·实验方法和检测第58-60页
     ·样品信息第58-59页
     ·热冲击实验及测试第59-60页
   ·实验结果第60-74页
     ·空洞的生长和分层第60-68页
     ·焊接层中的裂纹和疲劳第68-72页
     ·染色试验和断裂界面分析第72-74页
   ·讨论第74-75页
     ·焊接层的主要退化机理第74页
     ·空洞对焊接层可靠性的影响第74-75页
   ·本章小结第75-76页
第六章 金属间化合物的生长第76-95页
   ·实验设计和样品制备第76-77页
     ·时效实验第76-77页
     ·热冲击实验第77页
   ·试验结果第77-91页
     ·时效过程中界面IMC形貌的演化第77-82页
     ·热冲击过程中界面IMC形貌的演化第82-88页
     ·热冲击过程中IMC的生长速率第88-91页
   ·讨论第91-94页
     ·时效过程中界面IMC的生长第91-92页
     ·热冲击过程中界面IMC的生长第92-94页
   ·本章小结第94-95页
第七章 Cu-Ni-Sn三元金属间化合物的形成第95-107页
   ·实验设计和样品制备第95-97页
   ·试验结果第97-104页
     ·第一种结构的样品在SnPb/Ni界面的IMC第97页
     ·第二种结构的样品存SnPb/Ni界面的IMC第97-101页
     ·第三种结构的样品在SnPb/Ni界面的IMC第101-102页
     ·(Cu)-Ni-Sn IMC组成成分和XDR分析第102-104页
   ·关于(Cu)-Ni-Sn IMC的讨论第104-105页
   ·本章小结第105-107页
第八章 本文总结及需要进一步讨论的问题第107-111页
   ·总结第107-109页
   ·需要进一步讨论的问题第109-111页
参考文献第111-119页
攻读博士学位期间发表的学术论文目录第119-120页
致谢第120-121页
个人简历第121-122页
学位论文独创性声明第122页
学位论文使用授权声明第122页

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