| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 目录 | 第9-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-27页 |
| ·课题研究背景 | 第14-17页 |
| ·嵌入式系统设计趋势 | 第14-15页 |
| ·传统方法的局限性 | 第15-16页 |
| ·软／硬件协同设计技术 | 第16-17页 |
| ·研究的目的与意义 | 第17-18页 |
| ·相关研究 | 第18-24页 |
| ·国外研究现状 | 第19-21页 |
| ·EDA产品发展现状 | 第21-22页 |
| ·国内研究现状 | 第22-23页 |
| ·研究现状总结 | 第23-24页 |
| ·本文的主要工作 | 第24-25页 |
| ·本文的章节安排 | 第25-27页 |
| 第二章 可重用的SOC设计 | 第27-38页 |
| ·片上系统SoC | 第27-29页 |
| ·IP核 | 第29-31页 |
| ·构件 | 第31-33页 |
| ·SoC设计特点 | 第33-34页 |
| ·SoC软／硬件协同设计流程 | 第34-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第三章 SOC主要性能指标评价技术研究 | 第38-59页 |
| ·成本 | 第38-44页 |
| ·现有的成本估算方法 | 第39页 |
| ·软件成本 | 第39-42页 |
| ·软件规模度量 | 第39-41页 |
| ·软件成本估算技术 | 第41-42页 |
| ·硬件成本 | 第42-44页 |
| ·IP核成本 | 第43页 |
| ·IP核组装成本 | 第43页 |
| ·硬件总成本 | 第43-44页 |
| ·SoC总成本估算 | 第44页 |
| ·功耗 | 第44-53页 |
| ·CMOS集成电路的功耗来源 | 第45-46页 |
| ·静态功耗 | 第45页 |
| ·短路功耗 | 第45页 |
| ·动态功耗 | 第45-46页 |
| ·低功耗抽象层次 | 第46-51页 |
| ·系统级／行为级 | 第47-48页 |
| ·结构级／寄存器传送级 | 第48-49页 |
| ·逻辑级 | 第49-50页 |
| ·电路级／晶体管级 | 第50-51页 |
| ·功耗分析和评估方法 | 第51-53页 |
| ·仿真评估法 | 第51-52页 |
| ·统计评估法 | 第52页 |
| ·状态评估法 | 第52页 |
| ·指令评估法 | 第52-53页 |
| ·混合评估法 | 第53页 |
| ·时间特性 | 第53-55页 |
| ·基于增量的时间特性评价方法 | 第54页 |
| ·基于预模拟的时间特性评价方法 | 第54页 |
| ·基于多处理机调度算法的时间特性评价方法 | 第54-55页 |
| ·硬件面积 | 第55-58页 |
| ·SoC硬件部件的面积估算 | 第55页 |
| ·SoC芯片面积优化 | 第55-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 第四章 SOC软／硬件协同综合技术研究 | 第59-76页 |
| ·软／硬件协同综合问题的形式化定义 | 第59-61页 |
| ·现有的软／硬件协同综合方法及其不足 | 第61-63页 |
| ·多目标优化问题的数学定义 | 第63-66页 |
| ·基于图论的SoC软／硬件协同综合方法 | 第66-71页 |
| ·Core形式化定义 | 第66页 |
| ·模型建立 | 第66-67页 |
| ·问题转换 | 第67-69页 |
| ·问题求解 | 第69-71页 |
| ·顶点状态 | 第70页 |
| ·算法步骤 | 第70页 |
| ·算法分析 | 第70-71页 |
| ·实例研究 | 第71-74页 |
| ·小结 | 第74-76页 |
| 第五章 SOC软／硬件协同验证技术研究 | 第76-96页 |
| ·SoC验证与测试的区别 | 第76-77页 |
| ·验证级别 | 第77-78页 |
| ·现有的软／硬件协同验证方法的分类及其不足 | 第78-82页 |
| ·仿真验证方法 | 第78-81页 |
| ·模拟 | 第78-79页 |
| ·基于事务的验证 | 第79页 |
| ·混合层次仿真 | 第79-80页 |
| ·软／硬件协同仿真 | 第80-81页 |
| ·形式化验证 | 第81-82页 |
| ·模式检验 | 第81页 |
| ·谓词抽象 | 第81-82页 |
| ·基于时间着色Petrⅰ网的SoC软／硬件协同验证方法 | 第82-90页 |
| ·问题的形式化描述 | 第82-86页 |
| ·SoC设计的正确性验证 | 第86-89页 |
| ·SoC设计的时间特性验证 | 第89-90页 |
| ·实例研究 | 第90-94页 |
| ·小结 | 第94-96页 |
| 第六章 SOC测试调度策略研究 | 第96-117页 |
| ·SoC测试挑战 | 第96-101页 |
| ·IP核级测试问题 | 第98-99页 |
| ·芯片级测试问题 | 第99-100页 |
| ·SoC测试调度问题 | 第100-101页 |
| ·现有SoC测试调度方法及其不足 | 第101-102页 |
| ·基于遗传算法的SoC测试调度策略 | 第102-110页 |
| ·问题描述 | 第102-103页 |
| ·遗传算法流程 | 第103-105页 |
| ·编码策略 | 第105-106页 |
| ·适应度函数 | 第106-108页 |
| ·差分进化策略 | 第108-109页 |
| ·自适应变异策略 | 第109-110页 |
| ·实例研究 | 第110-115页 |
| ·小结 | 第115-117页 |
| 第七章 全文总结及进一步的工作 | 第117-120页 |
| 参考文献 | 第120-132页 |
| 致谢 | 第132-133页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第133-134页 |
| 一.个人简历 | 第133页 |
| 二.科研成果 | 第133页 |
| 三.论文发表 | 第133-134页 |
| 四.获奖情况 | 第134页 |