| 第一章 绪论 | 第1-14页 |
| §1．1 静态时序分析 | 第8-12页 |
| 1．1．1 静态时序分析的特点 | 第8-9页 |
| 1．1．2 静态时序分析的基本概念 | 第9-10页 |
| 1．1．3 静态时序分析的基本算法 | 第10-12页 |
| §1．2 时序分析面临的挑战 | 第12-14页 |
| 第二章 传统单元时序模型 | 第14-24页 |
| §2．1 模型分类 | 第14-17页 |
| 2．1．1 晶体管级延时模型 | 第14-15页 |
| 2．1．2 门级延时模型 | 第15页 |
| 2．1．3 模块级延时模型 | 第15-17页 |
| §2．2 传统门级延时模型 | 第17-24页 |
| 2．2．1 K_FACTOR方程 | 第17-20页 |
| 2．2．2 查表模型 | 第20-24页 |
| 第三章 深亚微米工艺下面临的时序问题 | 第24-36页 |
| §3．1 IR_DROP现象 | 第25-30页 |
| 3．1．1 IR_DROP现象产生的原理 | 第25-26页 |
| 3．1．2 IR_DROP的影响 | 第26-28页 |
| 3．1．3 IR_DROP现象对单元时序的影响及传统解决方法 | 第28-30页 |
| §3．2 RC负载 | 第30-33页 |
| 3．2．1 深亚微米下的单元负载 | 第30-31页 |
| 3．2．2 传统时序计算模型 | 第31-33页 |
| §3．3 耦合问题（CROSSTALK） | 第33-36页 |
| 第四章 基于IR_DROP的时序分析 | 第36-53页 |
| §4．1 基于IR_DROP的动态时序分析 | 第36-40页 |
| 4．1．1 算法流程 | 第37-38页 |
| 4．1．2 最坏情况分析 | 第38-39页 |
| 4．1．3 模型缺陷 | 第39-40页 |
| §4．2 基于IR_DROP的静态时序分析 | 第40-49页 |
| 4．2．1 电源网格分析 | 第40-42页 |
| 4．2．2 基于IR_DROP的时序计算模型 | 第42-46页 |
| 4．2．3 实例分析 | 第46-49页 |
| 4．2．4 结论 | 第49页 |
| §4．3 基于IR_DROP的时序库 | 第49-53页 |
| 第五章 基于RC负载的时序分析 | 第53-70页 |
| §5．1 等效电容模型 | 第53-59页 |
| 5．1．1 负载简化模型 | 第53-56页 |
| 5．1．2 等效电容C_（EFF） | 第56-59页 |
| §5．2 开关线性电阻模型 | 第59页 |
| §5．3 有效电压源模型 | 第59-63页 |
| 5．3．1 有效电压源 | 第60-61页 |
| 5．3．2 模型电阻 | 第61-62页 |
| 5．3．3 模型特性 | 第62-63页 |
| §5．4 有效电流源模型（ECSM） | 第63-68页 |
| 5．4．1 原模型介绍 | 第63-65页 |
| 5．4．2 模型改进 | 第65-68页 |
| §5．5 实例分析 | 第68-69页 |
| §5．6 结论 | 第69-70页 |
| 第六章 总结与展望 | 第70-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 致谢 | 第76页 |