超声相控阵技术若干关键问题的研究
中文摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-9页 |
第一章 绪论 | 第9-33页 |
·无损检测 | 第9-10页 |
·超声无损检测技术 | 第10-17页 |
·超声无损检测技术的历史进程 | 第10-11页 |
·超声无损检测新方法 | 第11-17页 |
·超声相控阵检测技术 | 第17-30页 |
·超声相控阵换能器 | 第18-20页 |
·超声相控阵检测技术的特点 | 第20-22页 |
·超声相控阵的声场计算方法 | 第22-23页 |
·超声相控阵检测结果的显示方式 | 第23-25页 |
·超声相控阵技术的研究现状 | 第25-30页 |
·课题的研究意义与主要内容 | 第30-33页 |
第二章 单一介质的超声相控阵声场特性 | 第33-51页 |
·超声相控阵的远场指向性分析 | 第33-40页 |
·远场条件的偏转声场 | 第33-35页 |
·远场指向性函数 | 第35-36页 |
·换能器参数对指向性的影响 | 第36-40页 |
·超声相控阵近场特性 | 第40-45页 |
·近场及近场长度 | 第40页 |
·近场声场模型 | 第40-42页 |
·近场特性仿真分析 | 第42-44页 |
·近场特性验证 | 第44-45页 |
·单一介质的缺陷检测 | 第45-50页 |
·近场检测实验 | 第46-47页 |
·远场检测实验 | 第47-50页 |
·小结 | 第50-51页 |
第三章 界面条件的超声相控阵声场特性 | 第51-68页 |
·界面问题的提出及化简 | 第51-52页 |
·单阵元辐射声场 | 第52-55页 |
·液体中单阵元声压公式 | 第52-53页 |
·平面波入射到液固界面的折射情况 | 第53-55页 |
·液固界面下的阵列辐射声场 | 第55-57页 |
·聚焦法则 | 第55-57页 |
·阵列的辐射声场 | 第57页 |
·声场仿真及分析 | 第57-62页 |
·偏转声束的声场仿真 | 第58-60页 |
·聚焦声束的声场仿真 | 第60-62页 |
·界面条件下的近场区 | 第62-64页 |
·近场长度计算 | 第62-63页 |
·实验研究 | 第63-64页 |
·界面条件下的伪缺陷 | 第64-67页 |
·波型转换产生的伪缺陷 | 第64-65页 |
·减小栅瓣伪缺陷的影响 | 第65-67页 |
·小结 | 第67-68页 |
第四章 缺陷的定性分析 | 第68-86页 |
·基于小波包的能量特征提取 | 第68-71页 |
·信号的小波包分解与重构 | 第68-70页 |
·构造能量特征向量 | 第70页 |
·最优小波包基的选取 | 第70-71页 |
·碳纤维复合材料缺陷信号的特征提取 | 第71-78页 |
·实验板制作 | 第71-72页 |
·碳纤维实验板缺陷信号采集 | 第72-74页 |
·缺陷信号的特征提取 | 第74-78页 |
·声束特性对特征提取的影响 | 第78-81页 |
·船型试块的聚焦与非聚焦对比 | 第78-80页 |
·碳纤维分层缺陷的聚焦与非聚焦对比 | 第80-81页 |
·声波波型对特征提取的影响 | 第81-82页 |
·缺陷尺寸对特征提取的影响 | 第82-84页 |
·小结 | 第84-86页 |
第五章 缺陷成像及缺陷定位、定量方法研究 | 第86-105页 |
·线性扫查图像的校正 | 第86-93页 |
·图像校正算法 | 第87-90页 |
·图像校正的改进算法 | 第90-92页 |
·改进算法的验证 | 第92-93页 |
·扇形扫查图像的校正 | 第93-97页 |
·图像校正算法 | 第93-95页 |
·校正算法的验证 | 第95-96页 |
·不同波型的 S 扫校正 | 第96-97页 |
·缺陷定量 | 第97-101页 |
·-6dB 定量方法 | 第97-99页 |
·边界跟踪 | 第99-100页 |
·声束聚焦特性对缺陷定量的影响 | 第100-101页 |
·缺陷定位 | 第101-103页 |
·缺陷中心的确定 | 第101-102页 |
·实验研究 | 第102-103页 |
·影响定位的因素 | 第103页 |
·小结 | 第103-105页 |
第六章 总结与展望 | 第105-108页 |
·全文总结 | 第105-106页 |
·进一步研究内容 | 第106-108页 |
参考文献 | 第108-118页 |
发表论文和科研情况说明 | 第118-119页 |
致谢 | 第119页 |