| 第一章 绪论 | 第1-13页 |
| 1．1 引言 | 第7页 |
| 1．2 设备故障诊断技术概述 | 第7-8页 |
| 1．3 系统研究方案 | 第8-9页 |
| 1．3．1 系统研究框架 | 第8页 |
| 1．3．2 系统研究阶段 | 第8-9页 |
| 1．4 DMAS故障诊断系统涉及领域和待解决的关键技术问题 | 第9-11页 |
| 1．4．1 DMAS故障诊断系统涉及领域 | 第9-10页 |
| 1．4．2 DMAS故障诊断系统待解决的关键技术问题 | 第10-11页 |
| 1．5 本文研究内容 | 第11-13页 |
| 1．5．1 DMAS显微镜采集终端研究 | 第11页 |
| 1．5．2 DMAS故障诊断专家系统的研究 | 第11-12页 |
| 1．5．3 DMAS远程故障诊断系统的研究 | 第12-13页 |
| 第二章 DMAS图像数据采集系统的研究 | 第13-35页 |
| 2．1 引言 | 第13页 |
| 2．2 图像采集系统的硬件构成 | 第13-15页 |
| 2．2．1 彩色工业CCD摄像头和CG200彩色图像采集卡 | 第14-15页 |
| 2．2．2 自动扫描三坐标显微镜 | 第15页 |
| 2．2．3 PCL839三轴步进电机控制卡 | 第15页 |
| 2．3 图像预处理 | 第15-19页 |
| 2．3．1 平滑 | 第16-18页 |
| 2．3．2 图像增强 | 第18-19页 |
| 2．4 采集目标识别 | 第19-22页 |
| 2．5 自动聚焦的实现 | 第22-29页 |
| 2．5．1 自动聚焦目标评价函数的实现 | 第22-24页 |
| 2．5．2 自动聚焦目标评价函数的选择 | 第24-25页 |
| 2．5．3 自动聚焦各种物镜倍数下聚焦步长的确定 | 第25-27页 |
| 2．5．4 粗聚焦算法的实现 | 第27-28页 |
| 2．5．5 微聚焦算法的实现 | 第28-29页 |
| 2．6 自动聚焦快速算法的实现 | 第29-30页 |
| 2．6．1 自动聚焦快速算法的原理 | 第29页 |
| 2．6．2 自动聚焦快速算法的程序实现 | 第29-30页 |
| 2．7 图像拼接 | 第30-32页 |
| 2．8 采样策略 | 第32页 |
| 2．9 和数据库技术相结合的采集系统图像的管理 | 第32-33页 |
| 2．10 DMAS采集系统的实现 | 第33-34页 |
| 2．11 总结 | 第34-35页 |
| 第三章 DMAS磨损故障综合诊断专家系统 | 第35-52页 |
| 3．1 引言 | 第35页 |
| 3．2 DMAS磨损故障综合诊断专家系统总体设计 | 第35-38页 |
| 3．2．1 系统总体设计的方法 | 第35-36页 |
| 3．2．2 DMAS磨损故障综合诊断专家系统结构详图 | 第36-38页 |
| 3．3 DMAS磨损故障综合诊断专家系统知识库的建立 | 第38-43页 |
| 3．3．1 专家系统知识的获取 | 第38-40页 |
| 3．3．2 专家系统知识的分类 | 第40-41页 |
| 3．3．3 专家系统知识的表示 | 第41-42页 |
| 3．3．4 专家系统诊断标准的建立 | 第42-43页 |
| 3．3．5 专家系统知识库的管理 | 第43页 |
| 3．4 OMAS磨损故障综合诊断专家系统推理机 | 第43-46页 |
| 3．5 DMAS磨损故障综合诊断专家系统综合数据库 | 第46-47页 |
| 3．6 DMAS磨损故障综合诊断专家系统解释部分 | 第47-49页 |
| 3．7 DMAS磨损故障综合诊断专家系统的实现 | 第49-51页 |
| 3．8 总结 | 第51-52页 |
| 第四章 DMAS远程故障诊断系统的研究 | 第52-60页 |
| 4．1 引言 | 第52页 |
| 4．2 基于Internet的远程故障诊断技术 | 第52-53页 |
| 4．2．1 基于Internet的远程故障诊断技术的概念 | 第52页 |
| 4．2．2 远程故障诊断技术的国内外研究现状 | 第52-53页 |
| 4．3 系统研究框架 | 第53-54页 |
| 4．4 DMAS远程采集监控终端研究 | 第54-57页 |
| 4．4．1 远程采集终端控制技术的研究 | 第55-56页 |
| 4．4．2 远程采集终端控制技术的具体实现 | 第56-57页 |
| 4．5 DMAS远程故障诊断服务中心的研究 | 第57-58页 |
| 4．6 DMAS远程故障诊断专家系统的研究 | 第58-59页 |
| 4．7 总结 | 第59-60页 |
| 第五章 DMAS软件系统 | 第60-63页 |
| 5．1 图像采集操作 | 第60-61页 |
| 5．1．1 样本和抽样注册 | 第60-61页 |
| 5．1．2 显微镜控制 | 第61页 |
| 5．2 计算分析操作 | 第61-62页 |
| 5．2．1 磨粒目标提取 | 第61-62页 |
| 5．2．2 磨粒分析计算 | 第62页 |
| 5．3 趋势分析 | 第62-63页 |
| 结束语 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
