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深亚微米单元工艺参数提取和建模技术研究

第一章 绪论第6-17页
    第一节 研究背景第6-11页
        1.1 面向互连的集成电路设计流程第7-8页
        1.2 参数库精度和质量对集成电路设计的影响第8-11页
    第二节 相关研究成果第11-15页
    第三节 本课题的研究内容第15-16页
    第四节 论文安排第16-17页
第二章 单元工艺参数和工艺参数提取建模流程第17-32页
    第一节 单元工艺参数第17-27页
        2.1.1 单元传输时延和弛豫时间第18-20页
        2.1.2 单元静态功耗和动态功耗第20-21页
        2.1.3 单元高阻状态时延第21-24页
        2.1.4 Minimum Setup Time/Minimum Hold Time第24-26页
        2.1.5 Minimum Recovery Time/Minimum Removal Time第26-27页
    第二节 单元工艺参数提取和建模流程第27-30页
        2.2.1 输入信号驱动nanolibdrv第28页
        2.2.2 逻辑激励波形生成nanolibsti第28-29页
        2.2.3 工艺参数提取nanolibchar第29页
        2.2.4 单元工艺参数建模nanolibbuild第29-30页
        2.2.5 库验证nanolibfunver第30页
    第三节 本章小结第30-32页
第三章 逻辑激励波形生成第32-53页
    第一节 组合单元的逻辑激励波形第32-40页
        3.1.1 多维通路敏化法的基本定义第33-38页
        3.1.2 故障多维通路敏化算法描述第38-39页
        3.1.3 试验结果第39-40页
    第二节 时序电路激励波形自动生成第40-47页
        3.2.1 时序电路的激励生成第40-46页
            3.2.1.1 传输延迟时间参数的激励波形自动生成方法第41-44页
            3.2.1.2 Constraint Time参数的激励波形自动生成方法第44-46页
        3.2.2 试验结果第46-47页
    第三节 激励波形精简第47-51页
        3.3.1 基于电路状态转换的逻辑激励波形简化第48-50页
        3.3.2 试验结果第50-51页
    第四节 本章小结第51-53页
第四章 深亚微米单元工艺参数提取第53-76页
    第一节 输入信号驱动算法第53-58页
        4.1.1 采样点偏离现象及其分析第53-54页
        4.1.2 采样点偏离现象的普遍性第54-55页
        4.1.3 格点偏离现象的分析第55-57页
        4.1.4 定位采样点的算法简述第57页
        4.1.5 实例研究第57-58页
    第二节 参数测试点选择算法第58-67页
        4.2.1 构造初始参数曲面第59-63页
        4.2.2 矩形域最小二乘曲面拟合的数学模型第63-64页
        4.2.3 动态曲面节点插入算法第64-65页
        4.2.4 试验结果第65-67页
    第三节 结果表数据优化第67-75页
        4.3.1 压缩方法中使用点说明第67-68页
        4.3.2 单平面边上可去点偏差修正第68-70页
            4.3.2.1 相邻单平面边上可去点偏差修正第68-70页
            4.3.2.2 非相邻单平面边上可去点偏差修正第70页
        4.3.3 整平面顶点优化第70-73页
            4.3.3.1 整平面上顶点偏差优化第71-72页
            4.3.3.2 整平面顶点优化情况分析第72-73页
        4.3.4 压缩策略第73-74页
        4.3.5 试验结果第74-75页
    第四节 本章小结第75-76页
第五章 IR Drop、Crosstalk和单元内部连线第76-94页
    第一节 IR Drop与单元时序第76-83页
        5.1.1 IR Drop现象产生的原理第76-77页
        5.1.2 IR Drop的影响第77-78页
        5.1.3 IR Drop现象对单元时序的影响及传统解决方法第78-81页
        5.1.4 IR Drop对单元时序影响的多项式表示第81-83页
    第二节 单元内部连线和Crosstalk第83-93页
        5.2.1 互连线解析电容模型第83-86页
        5.2.2 高频互连线串扰分析第86-87页
            5.2.2.1 两条电容性耦合互连线串扰模型第86页
            5.2.2.2 多条RC耦合互连线串扰模型第86-87页
        5.2.3 基于串扰分析的固定轨道通道布线第87-91页
            5.2.3.1 通道模型第87-88页
            5.2.3.2 基于最小斯坦纳树的通道布线第88-90页
            5.3.2.3 基于最小斯坦纳树的通道布线算法的实现第90页
            5.3.2.4 算法结果第90-91页
        5.2.4 Crosstalk的查表法建模第91-93页
    第三节 本章小结第93-94页
第六章 结论和展望第94-96页
    第一节 论文总结第94-95页
    第二节 展望第95-96页
参考文献第96-103页
作者在攻读博士学位期间发表或录用的论文第103-104页
致谢第104页

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