| 前言 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第12-26页 |
| 1.1 锥结构光纤传感器概述 | 第12-17页 |
| 1.2 目前锥结构光传感器制备及应用存在的问题或缺点 | 第17-18页 |
| 1.3 解决方法及创新点 | 第18-20页 |
| 参考文献 | 第20-26页 |
| 第2章 反射型光纤锥模式干涉仪 | 第26-52页 |
| 2.1 高温和压力光纤传感器介绍 | 第26-28页 |
| 2.2 光纤干涉仪理论 | 第28-31页 |
| 2.2.1 干涉光谱分析 | 第30-31页 |
| 2.2.2 传感机理 | 第31页 |
| 2.3 反射型光纤锥模式干涉仪 | 第31-40页 |
| 2.3.1 光纤锥模式干涉仪的制备 | 第32-36页 |
| 2.3.2 干涉光谱分析 | 第36-38页 |
| 2.3.3 干涉光谱的理论模拟 | 第38-40页 |
| 2.4 反射型光纤模式干涉仪的传感特性 | 第40-45页 |
| 2.4.1 横向负载的传感特性 | 第40-42页 |
| 2.4.2 基于横向负载的电流传感特性 | 第42-43页 |
| 2.4.3 高温的传感特性 | 第43-44页 |
| 2.4.4 双参数传感分析 | 第44-45页 |
| 2.5 本章小结 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-52页 |
| 第3章 基于双 J 型细纤芯锥结构的光纤马赫增德尔干涉仪 | 第52-68页 |
| 3.1 双 J 型细纤芯锥结构光纤马赫增德尔干涉仪的制备 | 第54-57页 |
| 3.2 双 J 型细纤芯锥结构光纤马赫增德尔干涉仪的传感特性 | 第57-64页 |
| 3.3 本章小结 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 第4章 基于 ZnO 薄膜的锥形光纤电场传感器 | 第68-90页 |
| 4.1 电光探测技术介绍 | 第69-75页 |
| 4.1.1 电光探测技术探测系统 | 第69-73页 |
| 4.1.2 逆压电共振增强电压灵敏度 | 第73-75页 |
| 4.2 ZnO 电光探头制备 | 第75-80页 |
| 4.2.1 ZnO 薄膜的生长和测试方法 | 第75-77页 |
| 4.2.2 ZnO 薄膜的制备工艺 | 第77-80页 |
| 4.3 ZnO 薄膜的锥形光纤电场传感器 | 第80-84页 |
| 4.3.1 锥形光纤电场传感器的制备 | 第80-82页 |
| 4.3.2 ZnO 电光探头的电场探测实验结果 | 第82-84页 |
| 4.4 本章小结 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-90页 |
| 第5章 结论 | 第90-92页 |
| 作者简介及科研成果 | 第92-96页 |
| 致谢 | 第96页 |
