| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 COG器件产生背景 | 第9-10页 |
| 1.2 COG封装技术 | 第10-11页 |
| 1.3 COG封装技术研究现状 | 第11-15页 |
| 1.3.1 有关各向异性导电胶的研究 | 第11-12页 |
| 1.3.2 粘接参数对与COG器件的影响 | 第12-14页 |
| 1.3.3 COG器件的可靠性研究 | 第14-15页 |
| 1.4 疲劳寿命与预测模型 | 第15-17页 |
| 1.5 本文的主要研究内容及意义 | 第17-19页 |
| 1.5.1 本文主要研究内容 | 第17-18页 |
| 1.5.2 研究意义 | 第18-19页 |
| 第二章 热电力耦合作用下COG器件疲劳性能研究 | 第19-34页 |
| 2.1 实验条件 | 第19-22页 |
| 2.1.1 实验材料 | 第19-21页 |
| 2.1.2 实验设备 | 第21-22页 |
| 2.2 实验方案 | 第22-25页 |
| 2.3 实验结果分析与讨论 | 第25-32页 |
| 2.3.1 热-电-力耦合作用下循环载荷对于COG器件电阻的影响 | 第25-27页 |
| 2.3.2 热-电-力耦合作用下温度对于COG器件的电阻的影响 | 第27-29页 |
| 2.3.3 热-电-力耦合作用下COG器件的疲劳寿命 | 第29-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 盐雾腐蚀对于COG器件的电学及粘接性能的影响 | 第34-49页 |
| 3.1 实验条件 | 第34-37页 |
| 3.1.1 实验材料 | 第34-35页 |
| 3.1.2 实验设备 | 第35-37页 |
| 3.2 实验方案 | 第37页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第37-47页 |
| 3.3.1 盐雾腐蚀对COG器件电阻的影响 | 第37-41页 |
| 3.3.2 盐雾腐蚀对COG器件的剪切性能的影响 | 第41-44页 |
| 3.3.3 COG器件剪切断面微观分析 | 第44-46页 |
| 3.3.4 COG器件电阻与最大剪切位移的关系 | 第46-47页 |
| 3.4 本章小结 | 第47-49页 |
| 第四章 盐雾腐蚀对于COG器件的剪切疲劳性能的影响 | 第49-59页 |
| 4.1 实验条件 | 第49-50页 |
| 4.2 实验方案 | 第50-51页 |
| 4.3 实验结果讨论和分析 | 第51-57页 |
| 4.3.1 盐雾腐蚀作用对于疲劳过程中COG器件的电阻变化的影响 | 第51-52页 |
| 4.3.2 盐雾腐蚀时间对于COG器件的疲劳寿命的影响 | 第52-54页 |
| 4.3.3 考虑盐雾腐蚀的COG器件的损伤模型 | 第54-56页 |
| 4.3.4 COG器件剪切疲劳微观分析 | 第56-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 结论与展望 | 第59-61页 |
| 5.1 本文的主要工作及结论 | 第59-60页 |
| 5.2 进一步研究工作展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
