基于CCD图像传感器的高温温度场软测量系统的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·研究背景与意义 | 第9-11页 |
| ·辐射测温典型产品概述 | 第11-16页 |
| ·火焰检测器 | 第11-13页 |
| ·红外热成像仪 | 第13-14页 |
| ·基于CCD的回转窑温度测量系统 | 第14-16页 |
| ·CCD辐射测温概述 | 第16-19页 |
| 第二章 彩色CCD辐射测温原理 | 第19-36页 |
| ·辐射测量原理 | 第19-23页 |
| ·基本概念与热辐射定律 | 第19-21页 |
| ·比色测温原理 | 第21-23页 |
| ·彩色CCD工作原理 | 第23-30页 |
| ·CCD的工作过程 | 第23-25页 |
| ·被测温度与CCD输出信号的关系 | 第25-30页 |
| ·基于彩色CCD的比色测温原理 | 第30-36页 |
| ·CCD比色测温原理 | 第30-31页 |
| ·CCD比色测温的误差分析 | 第31-33页 |
| ·测温误差的校正方法 | 第33-36页 |
| 第三章 CCD测温系统 | 第36-48页 |
| ·非接触式比色测温系统的构成 | 第36页 |
| ·成像系统 | 第36-39页 |
| ·CCD摄像机 | 第39-42页 |
| ·彩色CCD摄像机的性能参数 | 第39-42页 |
| ·彩色CCD摄像机的选取 | 第42页 |
| ·图像采集卡和图像数据处理系统 | 第42-48页 |
| ·图像采集卡 | 第42-43页 |
| ·图像采集卡的选择 | 第43页 |
| ·计算机的配置 | 第43-44页 |
| ·图像处理软件 | 第44-48页 |
| 第四章 多干扰高温辐射体目标图像识别技术 | 第48-56页 |
| ·图像分割概述 | 第48-49页 |
| ·多干扰情况下的高温辐射体目标图像识别 | 第49-53页 |
| ·多光谱图像分割方法 | 第49-51页 |
| ·改进的最大类间方差法 | 第51-53页 |
| ·高温辐射体图像分割方法 | 第53页 |
| ·实验结果 | 第53-56页 |
| 第五章 CCD测温系统测温范围的扩增 | 第56-65页 |
| ·测温范围影响因素分析 | 第56-57页 |
| ·调节光圈快门组合扩大测温范围 | 第57-61页 |
| ·使用中性滤光片扩大测温范围 | 第61-65页 |
| 第六章 测温系统的标定与误差分析 | 第65-73页 |
| ·标定原理 | 第65-66页 |
| ·标定装置 | 第66页 |
| ·标定实验步骤 | 第66-70页 |
| ·黑体炉标定实验步骤 | 第66-67页 |
| ·实验结果 | 第67-68页 |
| ·误差分析 | 第68-70页 |
| ·测温实验 | 第70-73页 |
| ·黑体炉测温实验结果 | 第70-71页 |
| ·现场测温实验结果 | 第71-73页 |
| 第七章 结论与建议 | 第73-75页 |
| ·结论 | 第73-74页 |
| ·建议 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 攻读硕士学位期间主要的研究成果 | 第82页 |