首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--一般性问题论文--材料论文--一般性问题论文

铬掺杂氮化物半导体外延和磁性研究

摘要第1-7页
Abstract第7-10页
引言第10-12页
第一章 绪论第12-34页
   ·Ⅲ族氮化物材料的基本性质第14-20页
     ·晶体结构和极性第14-15页
     ·极化和压电效应第15-16页
     ·热学性质和稳定性第16-18页
     ·电学和光学性质第18-20页
   ·Ⅲ族氮化物材料的外延生长第20-27页
     ·异质外延技术第20-23页
     ·衬底材料的选择第23-25页
     ·异质外延层的缺陷第25-26页
     ·原位掺杂第26-27页
   ·Ⅲ族氮化物自旋电子学器件第27-31页
     ·自旋电子学及自旋电子学器件简介第27-28页
     ·自旋极化的产生与探测第28页
     ·自旋相互作用第28-30页
     ·稀磁半导体的历史与现状第30-31页
   ·本论文的选题依据和工作安排第31-34页
第二章 Ⅲ族氮化物分子束外延生长与表征第34-58页
   ·分子束外延生长Ⅲ族氮化物第34-40页
     ·分子束外延系统的基本结构第34-35页
     ·超高真空与分子束外延第35-38页
     ·分子束外延生长机理第38-40页
   ·Ⅲ族氮化物的表征第40-58页
     ·薄膜厚度与元素含量测试第40-44页
     ·晶体结构与表面形态表征第44-54页
     ·光学特性表征第54-56页
     ·电学特性表征第56-57页
     ·磁学性质测量第57-58页
第三章 铬掺杂Ⅲ族氮化物半导体外延与物性研究第58-74页
   ·引言第58-60页
   ·分子束原位掺杂Cr外延GaN基稀磁半导体第60-68页
     ·样品的实时原位监测生长第60-62页
     ·晶体结构和质量分析第62-63页
     ·元素成分与化学价态分析第63-64页
     ·半导体光致发光与吸收光谱分析第64-65页
     ·磁学性质研究第65-68页
   ·分子束原位掺杂Cr外延立方AlN基稀磁半导体第68-72页
     ·样品的外延生长第68页
     ·元素成分与化学价态分析第68-69页
     ·晶体结构和质量分析第69-70页
     ·样品表面形貌表征第70-71页
     ·磁性测量与讨论第71-72页
   ·本章小结第72-74页
第四章 非晶态CrN室温铁磁性与跳跃电导研究第74-82页
   ·引言第74-75页
   ·非晶CrN样品的制备与表征第75-77页
     ·样品的制备第75页
     ·样品中元素含量和化学态第75-76页
     ·样品微结构与表面形貌表征第76-77页
   ·非晶CrN的磁性测量与讨论第77-78页
   ·非晶CrN的跳跃电导研究第78-80页
   ·本章小结第80-82页
第五章 全文总结第82-84页
参考文献第84-100页
攻读博士学位期间发表及待发表文章第100-102页
致谢第102页

论文共102页,点击 下载论文
上一篇:铁、钠流星尾迹的激光雷达观测研究及钠层全天时观测技术
下一篇:分子束外延生长InN薄膜和纳米结构及物性研究