基于JTAG的DSP和ARM芯片引脚故障注入技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 课题背景 | 第16页 |
| 1.2 故障注入研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.1 基于模拟的故障注入方法 | 第17-18页 |
| 1.2.2 基于物理的故障注入方法 | 第18页 |
| 1.2.3 其他故障注入方法 | 第18-19页 |
| 1.2.4 故障注入面临的挑战 | 第19页 |
| 1.3 课题主要工作和章节安排 | 第19-22页 |
| 1.3.1 课题主要研究内容 | 第19-20页 |
| 1.3.2 本文的章节安排 | 第20-22页 |
| 第二章 JTAG技术理论基础 | 第22-40页 |
| 2.1 IEEE 1149.x协议规范 | 第22-26页 |
| 2.1.1 IEEE 1149.1标准 | 第22-26页 |
| 2.1.2 其他相关标准 | 第26页 |
| 2.2 JTAG边界扫描技术 | 第26-33页 |
| 2.2.1 边界扫描基本单元 | 第27-31页 |
| 2.2.2 JTAG边界扫描原理 | 第31-33页 |
| 2.3 软件实现JTAG接口 | 第33-38页 |
| 2.3.1 PC并口简介 | 第34页 |
| 2.3.2 并口实现JTAG时序 | 第34-37页 |
| 2.3.3 边界扫描访问实例 | 第37-38页 |
| 2.4 本章小结 | 第38-40页 |
| 第三章 故障注入整体方案设计 | 第40-50页 |
| 3.1 电子系统故障模型 | 第40-41页 |
| 3.1.1 电子系统主要故障类型 | 第40-41页 |
| 3.1.2 芯片引脚主要故障类型 | 第41页 |
| 3.2 芯片引脚故障注入方案设计 | 第41-45页 |
| 3.2.1 故障注入系统整体方案 | 第42-43页 |
| 3.2.2 引脚故障注入控制流程设计 | 第43-44页 |
| 3.2.3 控制软件整体框架设计 | 第44-45页 |
| 3.3 JTAG协议转换器的选择 | 第45-48页 |
| 3.3.1 嵌入式芯片专用JTAG | 第46页 |
| 3.3.2 并口JTAG | 第46页 |
| 3.3.3 用于ICT测试的JTAG设备 | 第46-47页 |
| 3.3.4 不同协议转换器比较 | 第47-48页 |
| 3.4 本章小结 | 第48-50页 |
| 第四章 DSP芯片故障注入设计与实现 | 第50-66页 |
| 4.1 故障注入目标DSP芯片介绍 | 第50-52页 |
| 4.1.1 DSP F2812整体结构 | 第50页 |
| 4.1.2 DSP F2812管脚类型 | 第50-52页 |
| 4.2 DSP F2812边界扫描结构 | 第52-56页 |
| 4.2.1 边界扫描指令集 | 第52页 |
| 4.2.2 基本边界扫描单元 | 第52-53页 |
| 4.2.3 引脚对应的边界扫描结构 | 第53-55页 |
| 4.2.4 边界扫描链整体结构 | 第55-56页 |
| 4.3 DSP F2812故障注入实现 | 第56-59页 |
| 4.3.1 DSP F2812边界扫描配置 | 第56-57页 |
| 4.3.2 芯片加电时引脚故障注入 | 第57-58页 |
| 4.3.3 芯片在线引脚故障注入 | 第58-59页 |
| 4.4 DSP F2812引脚故障注入测试 | 第59-65页 |
| 4.4.1 故障注入控制软件 | 第59-60页 |
| 4.4.2 DSP F2812故障注入测试环境 | 第60页 |
| 4.4.3 引脚故障注入测试结果 | 第60-63页 |
| 4.4.4 测试结果分析 | 第63-65页 |
| 4.5 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 ARM芯片故障注入设计与实现 | 第66-82页 |
| 5.1 故障注入目标ARM芯片介绍 | 第66-67页 |
| 5.1.1 AT91RM9200整体结构 | 第66-67页 |
| 5.1.2 AT91RM9200管脚类型 | 第67页 |
| 5.2 ARM9内部扫描链结构 | 第67-70页 |
| 5.2.1 内部扫描操作指令集 | 第67-68页 |
| 5.2.2 内部扫描链简介 | 第68-69页 |
| 5.2.3 内部扫描链整体结构 | 第69-70页 |
| 5.3 基于ARM9的芯片引脚故障注入实现 | 第70-75页 |
| 5.3.1 ARM9调试模式 | 第70-72页 |
| 5.3.2 基于内部扫描链的故障注入结构 | 第72-73页 |
| 5.3.3 通过JTAG访问ARM9内核寄存器 | 第73-74页 |
| 5.3.4 引脚故障注入控制流程 | 第74-75页 |
| 5.4 ARM9引脚故障注入测试 | 第75-79页 |
| 5.4.1 故障注入控制软件 | 第75-76页 |
| 5.4.2 故障注入测试环境 | 第76页 |
| 5.4.3 故障注入测试结果 | 第76-79页 |
| 5.4.4 测试结果分析 | 第79页 |
| 5.5 本章小结 | 第79-82页 |
| 第六章 总结与展望 | 第82-84页 |
| 6.1 总结 | 第82页 |
| 6.2 展望 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 作者简介 | 第88-89页 |
