| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题背景来源和研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-14页 |
| 1.3 论文的主要研究目的和工作内容 | 第14-15页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第15-16页 |
| 第二章 集成电路测试技术 | 第16-26页 |
| 2.1 集成电路测试基本原理 | 第16-19页 |
| 2.2 芯片的可测性(Design for Test,简称DFT) | 第19-22页 |
| 2.3 存储器芯片的分类及Mrach算法 | 第22-25页 |
| 2.3.1 储器芯片 | 第22页 |
| 2.3.2 March算法 | 第22-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 测试方法的分析 | 第26-33页 |
| 3.1 测试项目分析 | 第26-28页 |
| 3.1.1 芯片工作环境的介绍 | 第26-27页 |
| 3.1.2 环境对芯片的影响 | 第27-28页 |
| 3.2 测试方法分析 | 第28-32页 |
| 3.2.1 对测试系统的要求 | 第28-30页 |
| 3.2.2 系统电路模块规划 | 第30-31页 |
| 3.2.3 测试软件系统规划 | 第31-32页 |
| 3.3 本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 系统模块及软件控制模块设计 | 第33-48页 |
| 4.1 系统模块 | 第33-35页 |
| 4.1.1 UART | 第33-34页 |
| 4.1.2 接口通讯协议 | 第34-35页 |
| 4.2 LabVIEW软件系统 | 第35-47页 |
| 4.2.1 LabVIEW开发环境 | 第36-37页 |
| 4.2.2 LabVIEW设计方案的论证 | 第37-39页 |
| 4.2.3 仪器驱动模块 | 第39-40页 |
| 4.2.4 总线协议 | 第40-41页 |
| 4.2.5 软件系统操作界面的设计和实现 | 第41-47页 |
| 4.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 系统界面和硬件设计 | 第48-53页 |
| 5.1 计算机软件主要面板介绍 | 第48-49页 |
| 5.2 系统功能验证 | 第49-51页 |
| 5.3 系统硬件展示 | 第51-52页 |
| 5.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-55页 |
| 6.1 总结 | 第53-54页 |
| 6.2 展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-58页 |
| 致谢 | 第58页 |