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高速电路及封装的电热协同分析

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-11页
第一章 绪论第11-17页
   ·研究背景第11-13页
   ·电热问题的重要性第13-15页
   ·研究现状第15-16页
   ·本文主要工作第16-17页
第二章 高速电路及封装的电特性分析第17-30页
   ·高速互连电路的物理建模第17-18页
   ·CMOS 门电路瞬态分析第18-22页
   ·互连线电路的瞬态分析与参数提取第22-29页
     ·FDTD 方法求解互连线时域响应第22-28页
     ·互连线时域分析参数提取第28-29页
   ·本章小结第29-30页
第三章 热分析的基本原理和方法第30-39页
   ·传热的三种基本模式第30-32页
     ·热传导第30-31页
     ·热对流第31-32页
     ·热辐射第32页
   ·热传导方程的热阻、热容提取第32-34页
   ·热路等效原则第34-36页
   ·热传导方程第36-38页
   ·本章小结第38-39页
第四章 纳米工艺下 CMOS 器件电热分析第39-48页
   ·CMOS 器件功耗随温度变化的特性第39-42页
   ·牛顿拉夫逊迭代法在典型微处理器热场分析中的应用第42-47页
 本章小结第47-48页
第五章 高速互连电路的电热协同分析第48-59页
   ·互连电路瞬态电特性建模仿真第48-51页
   ·互连电路瞬态热特性建模仿真第51-55页
     ·热传输线方法建立热路模型第51-54页
     ·互连结构的热仿真第54-55页
   ·高速互连电路的电热耦合问题第55-58页
   ·本章小结第58-59页
第六章 总结和展望第59-61页
参考文献第61-66页
致谢第66-67页
攻读学位期间发表和撰写的学术论文第67页

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