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应变硅MOS器件应力分布与电学特性的模拟研究

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
第一章 绪论第8-15页
   ·引言第8-10页
   ·应变硅技术的历史与现状第10-13页
   ·论文的主要工作第13-15页
第二章 应变硅技术的物理机制与应变引入方式第15-25页
   ·应变硅技术的物理机制第15-19页
     ·应变硅中电子的输运第16-17页
     ·应变硅中空穴的输运第17-19页
   ·应变的引入方式第19-25页
     ·衬底诱生应变第19-21页
     ·工艺诱生应变第21-23页
     ·后加工诱生应变第23-25页
第三章 应变硅MOSFET 的应力与应变研究第25-43页
   ·应力与应变第25-27页
   ·SiC S/D 应变硅NMOSFET第27-35页
     ·器件的结构与制造第27-29页
     ·有限元模型的建立第29-31页
     ·计算结果与分析第31-35页
   ·弛豫SiGe 上应变硅NMOSFET第35-40页
     ·器件的结构与制造第35-36页
     ·有限元模型的建立第36-37页
     ·计算结果与分析第37-40页
   ·SiGe S/D 应变硅PMOSFET第40-42页
   ·本章小结第42-43页
第四章 应变硅MOSFET 的电学特性研究第43-64页
   ·软件平台与研究方法第43-44页
   ·应变硅NMOS 的TCAD 研究第44-53页
     ·模型的描述第44-48页
     ·计算结果与分析第48-51页
     ·多应力结构应变硅NMOSFET第51-53页
   ·应变硅PMOS 的TCAD 研究第53-60页
     ·模型的描述第53-56页
     ·计算结果与分析第56-59页
     ·多应力结构应变硅PMOSFET第59-60页
   ·应变硅CMOS 反相器的VTC 研究第60-62页
   ·本章小结第62-64页
第五章 总结与展望第64-66页
致谢第66-67页
参考文献第67-75页
附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文第75页

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