应变硅MOS器件应力分布与电学特性的模拟研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·引言 | 第8-10页 |
| ·应变硅技术的历史与现状 | 第10-13页 |
| ·论文的主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 应变硅技术的物理机制与应变引入方式 | 第15-25页 |
| ·应变硅技术的物理机制 | 第15-19页 |
| ·应变硅中电子的输运 | 第16-17页 |
| ·应变硅中空穴的输运 | 第17-19页 |
| ·应变的引入方式 | 第19-25页 |
| ·衬底诱生应变 | 第19-21页 |
| ·工艺诱生应变 | 第21-23页 |
| ·后加工诱生应变 | 第23-25页 |
| 第三章 应变硅MOSFET 的应力与应变研究 | 第25-43页 |
| ·应力与应变 | 第25-27页 |
| ·SiC S/D 应变硅NMOSFET | 第27-35页 |
| ·器件的结构与制造 | 第27-29页 |
| ·有限元模型的建立 | 第29-31页 |
| ·计算结果与分析 | 第31-35页 |
| ·弛豫SiGe 上应变硅NMOSFET | 第35-40页 |
| ·器件的结构与制造 | 第35-36页 |
| ·有限元模型的建立 | 第36-37页 |
| ·计算结果与分析 | 第37-40页 |
| ·SiGe S/D 应变硅PMOSFET | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 应变硅MOSFET 的电学特性研究 | 第43-64页 |
| ·软件平台与研究方法 | 第43-44页 |
| ·应变硅NMOS 的TCAD 研究 | 第44-53页 |
| ·模型的描述 | 第44-48页 |
| ·计算结果与分析 | 第48-51页 |
| ·多应力结构应变硅NMOSFET | 第51-53页 |
| ·应变硅PMOS 的TCAD 研究 | 第53-60页 |
| ·模型的描述 | 第53-56页 |
| ·计算结果与分析 | 第56-59页 |
| ·多应力结构应变硅PMOSFET | 第59-60页 |
| ·应变硅CMOS 反相器的VTC 研究 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-75页 |
| 附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第75页 |