首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--一般性问题论文--半导体器件制造工艺及设备论文--光刻、掩膜论文

干涉光刻法制备任意图形微纳结构及其SERS应用的研究

摘要第1-7页
Abstract第7-11页
第一章 绪论第11-23页
   ·光刻技术简介第11-16页
     ·接触/接近式光刻第12-13页
     ·投影式光刻第13-14页
     ·粒子束刻蚀第14页
     ·激光干涉光刻第14-16页
   ·表面等离子体激元(Surface Plasmon Polariton,SPP)简介第16-18页
     ·表面等离子体激元的基本性质第16-17页
     ·局域表面等离子体激元的基本性质第17-18页
   ·拉曼散射简介第18-19页
   ·表面增强拉曼散射(SERS)简介第19-20页
   ·本文的主要研究内容第20-21页
 参考文献第21-23页
第二章 利用干涉光刻制备微纳结构第23-47页
   ·干涉光刻原理第23-24页
   ·利用脉冲光双光束干涉制备光栅第24-31页
     ·AR-N7520/4负性光刻胶曝光工艺流程第25-28页
     ·光刻光路第28页
     ·脉冲光刻写光栅结果第28-29页
     ·金属光栅的制备第29-31页
   ·数字微镜设备(DMD)与六棱镜结合进行点阵结构的刻写第31-39页
     ·DMD与棱镜干涉光刻的原理简介第32-33页
     ·利用棱镜进行多光束干涉的强度计算第33-35页
     ·DMD与棱镜结合光刻实验过程第35-38页
     ·多光束干涉强度分布的模拟结果第38-39页
   ·数字微镜设备(DMD)无掩膜投影光刻第39-43页
     ·DMD无掩膜投影光刻光路搭建第39-40页
     ·DMD无掩膜光刻实例第40-43页
   ·本章小结第43-44页
 参考文献第44-47页
第三章 金属尖端角度大小对SERS影响的研究第47-59页
   ·表面拉曼散射增强(SERS)的基本原理第47-51页
     ·SERS物理增强机制第47-48页
     ·SERS增强因子的计算第48-51页
   ·金属尖端角度大小对SERS影响的研究第51-56页
     ·角度不同金属尖端的制备第51-53页
     ·不同角度结构SERS谱的测量第53-55页
     ·利用FDTD模拟不同角度结构SERS谱第55-56页
   ·本章小结第56-57页
 参考文献第57-59页
第四章 论文总结与展望第59-61页
   ·主要研究工作第59页
   ·展望第59-61页
攻读硕士学位期间发表的工作第61页
本论文的研究工作得到一下基金的资助第61-62页
致谢第62页

论文共62页,点击 下载论文
上一篇:上市公司澄清公告的有效性研究
下一篇:电子商务环境下零售商家交付延迟补偿策略分析