基于高光谱成像技术的灵武长枣常见缺陷无损检测研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 英文简写清单 | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题研究目的及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外综述 | 第10-13页 |
| ·研究内容与方法 | 第13页 |
| ·技术路线 | 第13-14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 试验材料、仪器和分析方法 | 第15-29页 |
| ·试验材料 | 第15页 |
| ·高光谱成像系统 | 第15-18页 |
| ·高光谱图像采集 | 第18-19页 |
| ·高光谱光谱分析方法 | 第19-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 高光谱成像仪采集条件的研究 | 第29-33页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·试验材料 | 第29页 |
| ·试验方法 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 基于光谱信息的长枣缺陷识别 | 第33-41页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·试验材料与方法 | 第33-34页 |
| ·结果与分析 | 第34-40页 |
| ·总结 | 第40-41页 |
| 第五章 基于图像信息的长枣缺陷识别 | 第41-57页 |
| ·引言 | 第41页 |
| ·试验材料与方法 | 第41-42页 |
| ·结果与分析 | 第42-55页 |
| ·结论 | 第55-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| ·结论 | 第57-58页 |
| ·展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 个人简介 | 第65页 |
