芯片封装中时间—压力点胶过程建模、控制与应用研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-12页 |
| 1 绪论 | 第12-27页 |
| ·课题来源 | 第12页 |
| ·课题的目的和意义 | 第12-15页 |
| ·国内外研究综述 | 第15-25页 |
| ·流体点胶技术的发展及现状 | 第15-18页 |
| ·胶体特性与流量模型 | 第18-20页 |
| ·点胶量测量 | 第20-23页 |
| ·时间-压力点胶过程控制 | 第23-25页 |
| ·本文的研究内容 | 第25-27页 |
| 2 时间-压力点胶流量建模 | 第27-51页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·影响点胶一致性的因素 | 第27-30页 |
| ·模型推导与简化 | 第30-37页 |
| ·流体动态特性基本方程 | 第30-31页 |
| ·非牛顿流体特性 | 第31-32页 |
| ·流量模型 | 第32-37页 |
| ·模型分析与性能评估 | 第37-44页 |
| ·仿真条件 | 第37-39页 |
| ·稳态点胶仿真分析 | 第39-41页 |
| ·非稳态点胶仿真分析 | 第41-44页 |
| ·动态建模 | 第44-47页 |
| ·参数辨识 | 第44-45页 |
| ·参数标定条件 | 第45-47页 |
| ·模型验证 | 第47-50页 |
| ·结论 | 第50-51页 |
| 3 基于视觉的胶点测量 | 第51-64页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·离线测量的缺陷 | 第51-52页 |
| ·胶点边缘检测 | 第52-55页 |
| ·中值滤波 | 第52-53页 |
| ·基于形态学的胶点图像边缘检测 | 第53-55页 |
| ·SFS 基本原理 | 第55-57页 |
| ·光照模型 | 第55-56页 |
| ·约束条件 | 第56-57页 |
| ·SFS 线性迭代算法 | 第57-59页 |
| ·胶点SFS 模型 | 第59-63页 |
| ·反射图模型 | 第59-60页 |
| ·模型验证 | 第60-63页 |
| ·结论 | 第63-64页 |
| 4 基于参考模型的统计过程控制算法与仿真 | 第64-77页 |
| ·引言 | 第64-65页 |
| ·SPC 简介 | 第65-68页 |
| ·SPC 基本原理 | 第65页 |
| ·SPC 控制图 | 第65-67页 |
| ·过程判稳、判异准则 | 第67-68页 |
| ·针管内胶体余量估计 | 第68-70页 |
| ·估计模型 | 第68-69页 |
| ·模型验证 | 第69-70页 |
| ·时间-压力点胶统计过程控制 | 第70-74页 |
| ·时间-压力点胶过程控制的特点及控制方案选择 | 第70-72页 |
| ·控制器设计 | 第72-74页 |
| ·时间-压力点胶SPC 控制图 | 第74页 |
| ·时间-压力点胶统计过程控制的仿真实现 | 第74-76页 |
| ·结论 | 第76-77页 |
| 5 时间-压力点胶在线过程控制的实现 | 第77-87页 |
| ·引言 | 第77页 |
| ·时间-压力点胶控制系统的组成 | 第77-78页 |
| ·实验设计 | 第78-83页 |
| ·视觉测量方案设计 | 第78页 |
| ·制定均值-极差控制图 | 第78-80页 |
| ·总体方案设计 | 第80-83页 |
| ·实验结果与分析 | 第83-86页 |
| ·结论 | 第86-87页 |
| 6 结论与展望 | 第87-89页 |
| ·全文总结 | 第87-88页 |
| ·工作展望 | 第88-89页 |
| 致谢 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-97页 |
| 附录 攻读博士学位期间发表的论文 | 第97页 |
