金属互连电迁移噪声非高斯性研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·论文结构 | 第9-10页 |
| 第二章 金属互连电迁移与噪声非高斯性基础 | 第10-22页 |
| ·电迁移现象与失效微观机理 | 第10-11页 |
| ·电迁移现象 | 第10页 |
| ·电迁移失效微观机理 | 第10-11页 |
| ·非高斯信号基础知识 | 第11-18页 |
| ·高斯分布与高斯过程 | 第11-13页 |
| ·高斯分布 | 第11-12页 |
| ·高斯分布律 | 第12-13页 |
| ·高斯过程 | 第13页 |
| ·信号偏离高斯性的评判方法 | 第13-15页 |
| ·高阶统计量方法 | 第15-18页 |
| ·噪声与非高斯性 | 第18-19页 |
| ·噪声非高斯性在电迁移研究中的意义 | 第19-22页 |
| 第三章 金属互连电迁移噪声非高斯性实验 | 第22-40页 |
| ·金属互连电迁移噪声测量 | 第22-25页 |
| ·金属铝互连电迁移噪声测量系统 | 第22页 |
| ·金属铝互连电迁移样品 | 第22-24页 |
| ·电迁移试验设计 | 第24-25页 |
| ·金属互连电迁移噪声的非高斯性 | 第25-30页 |
| ·电迁移过程中噪声统计直方图的变化 | 第25-28页 |
| ·与电子器件的噪声非高斯性比较 | 第28-30页 |
| ·用参量分析噪声非高斯性 | 第30-35页 |
| ·电迁移过程中的噪声双谱变化 | 第30-33页 |
| ·统计检验量T~2 的变化规律 | 第33-35页 |
| ·噪声非高斯参量与传统参量对比 | 第35-39页 |
| ·噪声非高斯参量与电阻的对比 | 第35-37页 |
| ·噪声非高斯参量与频率指数的对比 | 第37-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第四章 电迁移噪声非高斯性理论分析与讨论 | 第40-50页 |
| ·自由体积理论 | 第40-41页 |
| ·基于自由体积的电阻涨落的非高斯性分析 | 第41-46页 |
| ·空位扩散聚集阶段的噪声 | 第41-45页 |
| ·空洞成核及长大阶段的噪声变化 | 第45-46页 |
| ·讨论与小结 | 第46-50页 |
| 第五章 总结及展望 | 第50-52页 |
| ·论文成果 | 第50页 |
| ·后续研究方向 | 第50-51页 |
| ·展望 | 第51-52页 |
| 致谢 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-60页 |
| 作者在读期间的研究成果 | 第60页 |