低不合格率过程质量控制图的研究与应用
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 第一章 统计过程控制与控制图 | 第6-14页 |
| ·统计过程控制在质量管理中的地位 | 第6-7页 |
| ·控制图基本知识 | 第7-11页 |
| ·控制图原理 | 第7-8页 |
| ·控制图的判稳和判异准则 | 第8-10页 |
| ·控制图分类 | 第10-11页 |
| ·控制图若干重要概念 | 第11-14页 |
| ·随机变异与系统变异 | 第11-12页 |
| ·控制图的两类错误 | 第12-13页 |
| ·控制图的ARL | 第13-14页 |
| 第二章 低不合格品率过程与连续合格品数控制图 | 第14-30页 |
| ·常规不合格品率（数）控制图 | 第14-15页 |
| ·几何控制图简介 | 第15-18页 |
| ·几何控制图产生背景 | 第15-16页 |
| ·几何控制图的统计基础 | 第16页 |
| ·几何控制图的常规设置 | 第16-18页 |
| ·以连续合格品数为控制对象的其它形式控制图 | 第18-19页 |
| ·几何控制图若干问题介绍和研究 | 第19-30页 |
| ·几何控制图的初始样本量 | 第19-24页 |
| ·几何控制图的检验错误效应分析 | 第24-25页 |
| ·几何控制图的偏态处理 | 第25-30页 |
| 第三章 几何CUSUM控制图 | 第30-42页 |
| ·CUSUM控制图基本概念 | 第30页 |
| ·CUSUM控制图基础 | 第30-33页 |
| ·CUSUM控制图的参数设置 | 第30-31页 |
| ·CUSUM控制图的ARL计算 | 第31-33页 |
| ·传统CUSUM控制图的应用 | 第33-36页 |
| ·应用已有的参数表进行设计 | 第33-35页 |
| ·通过ARL对结果的评价 | 第35-36页 |
| ·几何CUSUM控制图及其应用 | 第36-42页 |
| ·几何CUSUM控制图的参数 | 第36-38页 |
| ·几何CUSUM控制图的应用 | 第38-40页 |
| ·应用的若干问题 | 第40-42页 |
| 第四章 几何EWMA控制图 | 第42-46页 |
| ·传统EWMA控制图介绍 | 第42-43页 |
| ·几何EWMA控制图 | 第43-44页 |
| ·几何EWMA控制图应用 | 第44-46页 |
| 第五章 各种控制图的效率比较 | 第46-53页 |
| ·控制图效率比较的ANI指标及其计算 | 第46-47页 |
| ·以ANI为指标的各种控制图的综合比较 | 第47-50页 |
| ·试验结果比较与分析 | 第50-53页 |
| 第六章 总结 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第58-59页 |
| 附录：主要程序代码 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
