| 致谢 | 第9-10页 |
| 摘要 | 第10-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第19-30页 |
| 1.1 概述 | 第19-20页 |
| 1.2 课题的研究背景 | 第20-24页 |
| 1.2.1 软错误造成的危害 | 第20-22页 |
| 1.2.2 工艺进步对软错误的影响 | 第22-24页 |
| 1.3 软错误评估的研究现状 | 第24-27页 |
| 1.3.1 软错误评估的主要方法 | 第24-26页 |
| 1.3.2 软错误评估存在的问题及相关改进 | 第26-27页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第27-28页 |
| 1.5 本文组织结构 | 第28-30页 |
| 第二章 软错误的基本知识 | 第30-37页 |
| 2.1 引言 | 第30页 |
| 2.2 软错误机理 | 第30-35页 |
| 2.2.1 软错误的诱因 | 第31-33页 |
| 2.2.2 软错误的产生 | 第33-34页 |
| 2.2.3 软错误的故障类型 | 第34-35页 |
| 2.3 软错误评估的目的 | 第35-36页 |
| 2.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 基于SRAM型FPGA的SEU软错误评估 | 第37-57页 |
| 3.1 基于SRAM型FPGA的SEU故障注入分析平台 | 第37-42页 |
| 3.1.1 SEU故障模型及注入机制 | 第37-38页 |
| 3.1.2 SEU故障效果分类 | 第38页 |
| 3.1.3 SEU软错误评估平台设计 | 第38-42页 |
| 3.2 实验结果与分析 | 第42-55页 |
| 3.2.1 待评估微控制器电路 | 第42-49页 |
| 3.2.2 实验环境与总体步骤 | 第49-50页 |
| 3.2.3 软错误评估结果 | 第50-52页 |
| 3.2.4 选择性加固后的软错误评估结果 | 第52-53页 |
| 3.2.5 时间与资源开销分析 | 第53-55页 |
| 3.3 本章小结 | 第55-57页 |
| 第四章 基于SRAM型FPGA的SET软错误评估 | 第57-85页 |
| 4.1 SRAM型FPGA上的SET采集 | 第57-72页 |
| 4.1.1 已有SET测量电路 | 第57-61页 |
| 4.1.2 提出的SET检测电路 | 第61-63页 |
| 4.1.3 实验结果验证 | 第63-66页 |
| 4.1.4 SET检测器的进一步完善与结果分析 | 第66-72页 |
| 4.2 SRAM型FPGA上的SET产生 | 第72-78页 |
| 4.2.1 已有SET产生电路 | 第72-73页 |
| 4.2.2 提出的SET产生器 | 第73-75页 |
| 4.2.3 实验结果验证 | 第75-78页 |
| 4.3 SET传播的实验结果与分析 | 第78-83页 |
| 4.4 本章小结 | 第83-85页 |
| 第五章 脉冲传播相关的技术应用 | 第85-103页 |
| 5.1 SRAM型FPGA上高可靠蝶形PUF的实现 | 第85-94页 |
| 5.1.1 PUF概念 | 第85-86页 |
| 5.1.2 PUF研究现状 | 第86-88页 |
| 5.1.3 提出的低资源开销和高可靠蝶形PUF | 第88-93页 |
| 5.1.4 实验结果分析 | 第93-94页 |
| 5.2 SRAM型FPGA上高熵高吞吐的抖动量化TRNG实现 | 第94-101页 |
| 5.2.1 TRNG概念 | 第94-95页 |
| 5.2.2 TRNG研究现状 | 第95-96页 |
| 5.2.3 提出的高熵高吞吐抖动量化TRNG电路 | 第96-101页 |
| 5.2.4 实验结果分析 | 第101页 |
| 5.3 本章小结 | 第101-103页 |
| 第六章 总结 | 第103-105页 |
| 参考文献 | 第105-113页 |
| 攻读博士学位期间的学术活动及成果情况 | 第113-114页 |
