| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 研究目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 电容层析成像技术发展现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 ECT技术国内外发展现状 | 第11-14页 |
| 1.2.2 同面阵列电极电容成像技术发展现状 | 第14-15页 |
| 1.3 同面阵列电极电容成像技术面临的挑战 | 第15-16页 |
| 1.4 传统的无损检测手段 | 第16-19页 |
| 1.4.1 计算机层析成像技术 | 第16-17页 |
| 1.4.2 超声检测法 | 第17页 |
| 1.4.3 磁粉检测法 | 第17-18页 |
| 1.4.4 红外热成像检测法 | 第18-19页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第19-20页 |
| 第2章 同面阵列电极成像检测机理 | 第20-34页 |
| 2.1 同面阵列电容检测原理 | 第20-24页 |
| 2.1.1 图像重建机理分析 | 第21页 |
| 2.1.2 正问题 | 第21-23页 |
| 2.1.3 反问题 | 第23-24页 |
| 2.2 归一化方法及原理 | 第24页 |
| 2.3 同面阵列电极电容成像算法 | 第24-29页 |
| 2.3.1 线性反投影算法 | 第25页 |
| 2.3.2 Tikhonov正则化算法 | 第25-28页 |
| 2.3.3 Landweber迭代算法 | 第28-29页 |
| 2.4 同面阵列电极检测系统 | 第29-33页 |
| 2.4.1 敏感单元 | 第30-31页 |
| 2.4.2 数据采集及处理单元 | 第31-32页 |
| 2.4.3 图像重建单元 | 第32-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 基于奇异值分解的同面阵列电极传感器敏感场仿真研究 | 第34-47页 |
| 3.1 有限元法概述 | 第34-35页 |
| 3.2 敏感场矩阵评估手段 | 第35-37页 |
| 3.2.1 特征值分解 | 第35页 |
| 3.2.2 奇异值分解 | 第35-37页 |
| 3.3 敏感场划分方式研究 | 第37-39页 |
| 3.4 不同敏感场的图像重建效果 | 第39-44页 |
| 3.5 同面阵列电极检测系统的 3D图像重建 | 第44-46页 |
| 3.6 本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 基于数据冗余性分析的图像重构过程 | 第47-58页 |
| 4.1 电容数据分析 | 第47-49页 |
| 4.2 图像重建贡献率 | 第49-50页 |
| 4.3 电容数据信噪比 | 第50-52页 |
| 4.4 敏感场分析 | 第52-53页 |
| 4.5 数据缩减与图像重建结果分析 | 第53-57页 |
| 4.5.1 数据缩减与图像信息 | 第53-55页 |
| 4.5.2 数据缩减与抗干扰能力 | 第55-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 基于同面阵列电极的复合材料缺陷检测实验 | 第58-67页 |
| 5.1 缺陷检测有效性实验 | 第58-61页 |
| 5.2 不同厚度复合材料的缺陷检测实验 | 第61-66页 |
| 5.3 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-75页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |