集成电路设计与测试共享云平台的研究与开发
| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第7-9页 |
| 1.2 研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.1 云计算技术的发展 | 第9-10页 |
| 1.2.2 集成电路远程设计及测试的发展 | 第10-11页 |
| 1.3 研究内容和意义 | 第11-12页 |
| 1.4 论文结构 | 第12-13页 |
| 第2章 IC设计与测试共享云平台架构 | 第13-23页 |
| 2.1 集成电路专有云 | 第13-14页 |
| 2.2 云平台功能需求分析 | 第14-17页 |
| 2.2.1 共享云平台应用程序接口 | 第14-15页 |
| 2.2.2 集成电路设计开发工具组 | 第15-16页 |
| 2.2.3 ATE设备的远程共享 | 第16-17页 |
| 2.3 共享云平台架构 | 第17-22页 |
| 2.3.1 整体架构 | 第18-19页 |
| 2.3.2 基础设施服务层 | 第19-20页 |
| 2.3.3 平台服务层 | 第20-21页 |
| 2.3.4 软件服务层 | 第21-22页 |
| 2.4 用户管理系统 | 第22-23页 |
| 第3章 云平台接口设计及工具组的开发 | 第23-47页 |
| 3.1 应用程序部署接口方式 | 第23-26页 |
| 3.1.1 通过API与私有云的接口 | 第24-25页 |
| 3.1.2 应用程序间的数据共享 | 第25-26页 |
| 3.2 芯片开发工具组的研发 | 第26-32页 |
| 3.2.1 芯片验证图像数据的生成技术 | 第26-31页 |
| 3.2.2 芯片设计脚本自动检查方法 | 第31-32页 |
| 3.3 专用测试向量生成方法 | 第32-40页 |
| 3.3.1 传统方法耗时分析及改进 | 第33-34页 |
| 3.3.2 关键特征点的提取 | 第34-37页 |
| 3.3.3 实验结果及优化分析 | 第37-40页 |
| 3.4 ATE设备的远程共享技术 | 第40-47页 |
| 3.4.1 远程测试订单管理APP | 第41-43页 |
| 3.4.2 测试矢量的格式转换 | 第43-47页 |
| 第4章 实验结果和分析 | 第47-61页 |
| 4.1 基于Django框架的云平台的设计实现 | 第47-50页 |
| 4.2 IC开发工具组的调试与实验 | 第50-57页 |
| 4.2.1 基于API接口的工具组 | 第50-52页 |
| 4.2.2 图像拼接芯片验证工具 | 第52-56页 |
| 4.2.3 芯片设计脚本语法检查APP | 第56-57页 |
| 4.3 ATE共享实验及分析 | 第57-61页 |
| 第5章 总结和展望 | 第61-65页 |
| 5.1 总结 | 第61-62页 |
| 5.2 展望 | 第62-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
