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基于BIT的电子控制器容错设计技术研究

摘要第1-5页
Abstract第5-11页
第一章 绪论第11-17页
   ·论文研究意义和背景第11-12页
   ·BIT 技术概述第12-14页
   ·容错设计技术概述第14-15页
   ·研究内容及论文安排第15-17页
第二章 控制器总体方案设计第17-31页
   ·BIT 技术原理及工程实现第17-22页
     ·BIT 设计的指导思想第17页
     ·输入通道BIT 设计第17-21页
     ·输出通道BIT 设计第21-22页
   ·控制器总体方案设计第22-27页
   ·通道间通信设计第27-28页
   ·控制器外部信号接口设计第28-30页
     ·传感器第28-29页
     ·执行机构第29-30页
   ·本章小结第30-31页
第三章 双通道控制器可靠性分析第31-47页
   ·可靠性概述第31-32页
   ·故障树分析法概述第32-36页
   ·双通道控制器可靠性分析第36-43页
     ·双通道整体切换控制器第36-37页
     ·双通道经典冗余控制器第37-39页
     ·本文设计的双通道控制器第39-41页
     ·可靠性比较第41-43页
   ·控制器输入模块重构能力分析第43-44页
   ·控制器输出模块重构能力分析第44-45页
   ·本章小结第45-47页
第四章 切换管理及超转保护通道硬件设计第47-58页
   ·切换通道总体设计第47-50页
     ·通道间输入信号第49页
     ·通道间输出信号第49-50页
     ·通道间双向信号第50页
     ·通道内信号第50页
   ·切换通道核心板设计第50-52页
   ·切换通道底板设计第52-53页
   ·电路原理图设计第53-56页
     ·电源模块第53-54页
     ·时钟电路第54页
     ·复位电路第54-55页
     ·FPGA 芯片JTAG 接口电路第55页
     ·ARM 硬核JTAG 接口电路第55-56页
   ·电路PCB 设计第56-57页
   ·本章小结第57-58页
第五章 切换管理及超转保护通道软件设计及实验验证第58-80页
   ·软件总体设计第58-59页
   ·ARM 硬核功能设计第59-63页
     ·ARM 硬核性能综述第59-60页
     ·ARM 硬核功能设计第60-62页
     ·地址映射分析第62页
     ·ARM 硬核中的运行软件设计第62-63页
   ·控制器输出管理IP 软核设计第63-66页
     ·输出模块设计第63-65页
     ·时序仿真验证第65-66页
   ·超转保护逻辑设计第66-68页
     ·转速在发动机控制中的重要性第66-67页
     ·超转保护逻辑设计第67页
     ·时序仿真验证第67-68页
   ·边界扫描IP 软核设计第68-73页
     ·边界扫描技术概述第68-69页
     ·边界扫描控制器状态机分析第69-70页
     ·边界扫描控制器IP 软核设计第70-71页
     ·边界扫描控制器实验验证第71-73页
   ·切换通道实验验证第73-79页
     ·输入模块切换实验第74-75页
     ·输出模块切换实验第75-76页
     ·通道切换实验第76-77页
     ·超转保护实验第77-78页
     ·边界扫描实验第78-79页
   ·本章小结第79-80页
第六章 总结与展望第80-82页
   ·论文总结第80-81页
   ·工作展望第81-82页
参考文献第82-86页
致谢第86-87页
在学期间的研究成果及发表的学术论文第87页

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