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新型耐压结构AlGaN/GaN HEMT功率器件研究

摘要第5-6页
abstract第6页
第一章 绪论第10-19页
    1.1 课题研究背景和意义第10-14页
    1.2 国内外发展动态第14-18页
    1.3 论文主要内容第18-19页
第二章 AlGaN/GaN HEMT器件的工作原理第19-31页
    2.1 GaN材料的极化效应和二维电子气第19-25页
        2.1.1 GaN材料的极化效应第19-22页
        2.1.2 二维电子气第22-25页
    2.2 AlGaN/GaN HEMT基本器件结构与工作原理第25-27页
    2.3 AlGaN/GaN HEMT器件的性能参数第27-29页
    2.4 AlGaN/GaN HEMT击穿机理与泄漏电流第29-30页
    2.5 本章小结第30-31页
第三章 带浮空场板的AlGaN/GaN HEMT的仿真研究第31-40页
    3.1 场板的简介第31-33页
        3.1.1 普通场板结构第31-33页
        3.1.2 浮空场板结构和作用机理第33页
    3.2 浮空的AlGa N/GaN HEMT结构仿真第33-39页
        3.2.1 漏极电压变化时沟道内电场的分布情况第34-36页
        3.2.2 浮空场板的长度变化对器件的影响第36-38页
        3.2.3 浮空场板对器件的高频的特性的影响第38-39页
    3.3 本章小结第39-40页
第四章 带P型埋层的垂直AlGaN/GaN HEMT器件的仿真研究第40-58页
    4.1 垂直AlGaN/GaN HEMT器件第41-45页
        4.1.1 垂直AlGa N/GaN HEMT器件的结构与工作原理第41-42页
        4.1.2 带P型埋层的垂直AlGaN/GaN HEMT器件的结构与工作原理第42-45页
    4.2 带P型埋层的垂直AlGaN/GaN HEMT器件的仿真研究第45-57页
        4.2.1 NPBL对垂直AlGaN/GaN HEMT器件特性的影响第45-48页
        4.2.2 LPBL对垂直AlGaN/GaN HEMT器件特性的影响第48-50页
        4.2.3 TPBL对垂直AlGaN/GaN HEMT器件特性的影响第50-52页
        4.2.4 LISO对垂直AlGaN/GaN HEMT器件的影响第52-54页
        4.2.5 优化后P型埋层对垂直AlGaN/GaN HEMT器件的影响第54-57页
    4.3 本章小结第57-58页
第五章 结论第58-59页
致谢第59-60页
参考文献第60-67页
攻读硕士期间取得的研究成果第67-68页

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