多芯片电源配送网络分析与去耦设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 电源完整性问题产生背景 | 第15-17页 |
| 1.2 电源分配网络的设计 | 第17-18页 |
| 1.3 课题研究的主要内容 | 第18-19页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第19-21页 |
| 第二章 PDN网络构成及设计分析 | 第21-35页 |
| 2.1 PDN主要功能 | 第21页 |
| 2.2 PDN网络组成部分 | 第21-29页 |
| 2.2.1 VRM | 第22-23页 |
| 2.2.2 去耦电容器 | 第23-27页 |
| 2.2.3 电路板和封装中的平面 | 第27-28页 |
| 2.2.4 片上电源分配网络 | 第28-29页 |
| 2.3 PDN设计方法 | 第29-30页 |
| 2.4 电源完整性与EMI/EMC | 第30-33页 |
| 2.4.1 平面谐振产生电源噪声 | 第31页 |
| 2.4.2 PCB中过孔切换引起电源噪声 | 第31-32页 |
| 2.4.3 IC汲取电流 | 第32页 |
| 2.4.4 电源噪声的耦合管理与抑制 | 第32-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 去耦电容器位置分析 | 第35-51页 |
| 3.1 电容器的等效串联电感 | 第35-36页 |
| 3.2 去耦电容器位置影响分析 | 第36-43页 |
| 3.2.1 去耦电容器的全局和本地特性 | 第37-38页 |
| 3.2.2 电容器位置频域仿真 | 第38-39页 |
| 3.2.3 电容器位置时域仿真 | 第39-41页 |
| 3.2.4 去耦电容安装方法 | 第41-43页 |
| 3.3 电容器摆放形式比较 | 第43-50页 |
| 3.3.1 谐振腔法 | 第43页 |
| 3.3.2 谐振腔模型的网格表示 | 第43-44页 |
| 3.3.3 平面谐振腔电路模型 | 第44-45页 |
| 3.3.4 利用谐振腔模型计算平面阻抗 | 第45-47页 |
| 3.3.5 电容器常用布局形式及仿真 | 第47-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 多芯片PDN网络分析与设计 | 第51-71页 |
| 4.1 平面的PDN特性 | 第51-53页 |
| 4.1.1 PDN多输入阻抗介绍 | 第51-52页 |
| 4.1.2 PDN全局特性和本地特性 | 第52-53页 |
| 4.2 多输入阻抗的计算 | 第53-57页 |
| 4.2.1 多输入阻抗定义 | 第53页 |
| 4.2.2 多输入阻抗计算 | 第53-54页 |
| 4.2.3 未去耦平面的多输入阻抗仿真分析 | 第54-56页 |
| 4.2.4 去耦平面的多输入阻抗仿真分析 | 第56-57页 |
| 4.3 PDN设计仿真软件介绍 | 第57-60页 |
| 4.3.1 SI-wave简介 | 第57-58页 |
| 4.3.2 ADS简介 | 第58-59页 |
| 4.3.3 PI-TOOL简介 | 第59-60页 |
| 4.4 多芯片PDN网络设计 | 第60-68页 |
| 4.4.1 多输入阻抗的矢量拟合 | 第60-64页 |
| 4.4.2 设计步骤 | 第64-68页 |
| 4.5 时域验证 | 第68-69页 |
| 4.6 本章小结 | 第69-71页 |
| 第五章 总结展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 作者简介 | 第79-80页 |
