摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-13页 |
第1章 绪论 | 第13-35页 |
·分子结制备方法研究进展 | 第13-15页 |
·分子结的制备方法 | 第15-31页 |
·软接触法 | 第15-17页 |
·扫描探针显微镜法(SPM) | 第17-19页 |
·间接沉积法 | 第19-20页 |
·对电极法 | 第20-24页 |
·交叉线法 | 第24-29页 |
·角度沉积法 | 第29-30页 |
·腐蚀孔法 | 第30-31页 |
·常见分子类型 | 第31-33页 |
·总结与展望 | 第33-34页 |
·本论文的主要工作 | 第34-35页 |
第2章 金属-薄膜-金属器件荷电输运机制 | 第35-55页 |
·有机-电极界面电学特性研究理论基础 | 第35-37页 |
·金属-分子-金属界面电学特性研究的理论模型 | 第37-54页 |
·隧道效应(Tunneling model) | 第40-44页 |
·发射效应(Schottky) | 第44-46页 |
·法兰克-普尔发射(Poole-Frankel Emission) | 第46-49页 |
·跳跃传导(Hopping) | 第49-51页 |
·空间电荷限制电流效应(SCLC)和陷阱电荷限制电流效应(TCLC) | 第51-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第3章 自组装分子低温变温下的光电特性研究 | 第55-82页 |
·引言 | 第55-56页 |
·实验部分 | 第56-62页 |
·实验所需材料 | 第57页 |
·实验流程 | 第57-61页 |
·电学特性测试 | 第61-62页 |
·结果与讨论 | 第62-79页 |
·传输机理分析 | 第62-66页 |
·西蒙理论模拟分析 | 第66-76页 |
·F-N模拟分析 | 第76-79页 |
·机理讨论与分析 | 第79-81页 |
·本章小结 | 第81-82页 |
第4章 共轭分子低温变温下的光电特性研究 | 第82-114页 |
·引言 | 第82-83页 |
·无侧链低聚噻吩吡啶自组装分子结电学特性研究 | 第83-93页 |
·电学特性测试研究 | 第83-88页 |
·伏安特性曲线模拟 | 第88-93页 |
·带侧链低聚噻吩吡啶自组装分子结电学特性研究 | 第93-103页 |
·电学特性测试研究 | 第94-101页 |
·伏安特性模拟分析 | 第101-103页 |
·短链低聚噻吩自组装分子结电学特性研究 | 第103-111页 |
·电学特性测试研究 | 第103-107页 |
·分子结稳定性分析 | 第107页 |
·输运机理分析 | 第107-110页 |
·西蒙理论分析 | 第110-111页 |
·输运机理讨论 | 第111-112页 |
·本章小结 | 第112-114页 |
第5章 纳米粒子有机分子包埋复合薄膜的电开关特性研究 | 第114-150页 |
·引言 | 第114-117页 |
·纳米粒子的制备方法 | 第117-121页 |
·物理方法 | 第117-118页 |
·化学方法 | 第118-120页 |
·物理化学方法 | 第120-121页 |
·水热法制备ZnO纳米粒子 | 第121-128页 |
·实验所用药品和试剂 | 第122-123页 |
·实验流程 | 第123-125页 |
·样品表征 | 第125-128页 |
·几种金属氧化物/多元复合金属氧化物纳米粒子的制备 | 第128-136页 |
·试剂与仪器 | 第128-129页 |
·实验过程 | 第129-130页 |
·样品表征 | 第130-136页 |
·金属氧化物纳米粒子有机分子包埋复合薄膜的制备与研究 | 第136-146页 |
·试剂与仪器 | 第136-137页 |
·实验过程 | 第137-138页 |
·样品表征 | 第138-146页 |
·在柔性基片上制备纳米粒子有机分子包埋复合薄膜 | 第146-149页 |
·实验过程 | 第147页 |
·样品表征 | 第147-149页 |
·本章小结 | 第149-150页 |
第6章 结论与展望 | 第150-152页 |
·主要结论 | 第150-151页 |
·研究展望 | 第151-152页 |
参考文献 | 第152-174页 |
致谢 | 第174-175页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第175-176页 |
附录 | 第176-187页 |