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几种有机分子薄膜器件的制备及电学特性研究

摘要第1-8页
Abstract第8-13页
第1章 绪论第13-35页
   ·分子结制备方法研究进展第13-15页
   ·分子结的制备方法第15-31页
     ·软接触法第15-17页
     ·扫描探针显微镜法(SPM)第17-19页
     ·间接沉积法第19-20页
     ·对电极法第20-24页
     ·交叉线法第24-29页
     ·角度沉积法第29-30页
     ·腐蚀孔法第30-31页
   ·常见分子类型第31-33页
   ·总结与展望第33-34页
   ·本论文的主要工作第34-35页
第2章 金属-薄膜-金属器件荷电输运机制第35-55页
   ·有机-电极界面电学特性研究理论基础第35-37页
   ·金属-分子-金属界面电学特性研究的理论模型第37-54页
     ·隧道效应(Tunneling model)第40-44页
     ·发射效应(Schottky)第44-46页
     ·法兰克-普尔发射(Poole-Frankel Emission)第46-49页
     ·跳跃传导(Hopping)第49-51页
     ·空间电荷限制电流效应(SCLC)和陷阱电荷限制电流效应(TCLC)第51-54页
   ·本章小结第54-55页
第3章 自组装分子低温变温下的光电特性研究第55-82页
   ·引言第55-56页
   ·实验部分第56-62页
     ·实验所需材料第57页
     ·实验流程第57-61页
     ·电学特性测试第61-62页
   ·结果与讨论第62-79页
     ·传输机理分析第62-66页
     ·西蒙理论模拟分析第66-76页
     ·F-N模拟分析第76-79页
   ·机理讨论与分析第79-81页
   ·本章小结第81-82页
第4章 共轭分子低温变温下的光电特性研究第82-114页
   ·引言第82-83页
   ·无侧链低聚噻吩吡啶自组装分子结电学特性研究第83-93页
     ·电学特性测试研究第83-88页
     ·伏安特性曲线模拟第88-93页
   ·带侧链低聚噻吩吡啶自组装分子结电学特性研究第93-103页
     ·电学特性测试研究第94-101页
     ·伏安特性模拟分析第101-103页
   ·短链低聚噻吩自组装分子结电学特性研究第103-111页
     ·电学特性测试研究第103-107页
     ·分子结稳定性分析第107页
     ·输运机理分析第107-110页
     ·西蒙理论分析第110-111页
   ·输运机理讨论第111-112页
   ·本章小结第112-114页
第5章 纳米粒子有机分子包埋复合薄膜的电开关特性研究第114-150页
   ·引言第114-117页
   ·纳米粒子的制备方法第117-121页
     ·物理方法第117-118页
     ·化学方法第118-120页
     ·物理化学方法第120-121页
   ·水热法制备ZnO纳米粒子第121-128页
     ·实验所用药品和试剂第122-123页
     ·实验流程第123-125页
     ·样品表征第125-128页
   ·几种金属氧化物/多元复合金属氧化物纳米粒子的制备第128-136页
     ·试剂与仪器第128-129页
     ·实验过程第129-130页
     ·样品表征第130-136页
   ·金属氧化物纳米粒子有机分子包埋复合薄膜的制备与研究第136-146页
     ·试剂与仪器第136-137页
     ·实验过程第137-138页
     ·样品表征第138-146页
   ·在柔性基片上制备纳米粒子有机分子包埋复合薄膜第146-149页
     ·实验过程第147页
     ·样品表征第147-149页
   ·本章小结第149-150页
第6章 结论与展望第150-152页
   ·主要结论第150-151页
   ·研究展望第151-152页
参考文献第152-174页
致谢第174-175页
攻读硕士学位期间发表的论文第175-176页
附录第176-187页

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