基于CMOS的耐辐射图像采集系统
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·CMOS 图像采集器件 | 第11-13页 |
| ·耐辐射 CMOS 图像采集器件发展过程 | 第13页 |
| ·论文内容结构 | 第13-14页 |
| 2 辐射理论分析及抗辐射设计 | 第14-24页 |
| ·辐射对电子器件的影响 | 第14-17页 |
| ·移位效应 | 第14-15页 |
| ·电离辐射总剂量效应—TID | 第15-17页 |
| ·耐辐射 CMOS 器件 | 第17-18页 |
| ·TID 对 CMOS 器件的影响 | 第17页 |
| ·CMOS 器件的耐辐射技术 | 第17-18页 |
| ·系统的抗辐射加固 | 第18-22页 |
| ·器件选择 | 第18-20页 |
| ·电路的抗辐射加固 | 第20-21页 |
| ·软件的抗辐射加固 | 第21页 |
| ·辐射的屏蔽 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-24页 |
| 3 系统方案设计 | 第24-31页 |
| ·设计需求及系统性能指标 | 第24页 |
| ·系统总体结构设计 | 第24-25页 |
| ·辐射区系统构架 | 第25-27页 |
| ·非辐射区系统结构设计 | 第25-26页 |
| ·辐射区集成器件的选择 | 第26-27页 |
| ·部分电路的系统辐射加固 | 第27页 |
| ·非辐射区系统构架 | 第27-30页 |
| ·非辐射区系统结构设计 | 第27-28页 |
| ·非辐射区集成器件的选择 | 第28-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 4 辐射区系统设计 | 第31-42页 |
| ·STAR250 内部模块及工作方式 | 第31-33页 |
| ·加窗处理及其功能实现 | 第32页 |
| ·双采样循环输出 | 第32-33页 |
| ·辐射区电路设计 | 第33-36页 |
| ·CMOS 图像传感器电路设计 | 第33-35页 |
| ·阻抗匹配电路设计 | 第35-36页 |
| ·辐射区 FPGA 控制程序 | 第36-41页 |
| ·上电初始化信号生成模块—START | 第37-38页 |
| ·分时模块—TIME | 第38-39页 |
| ·同步信号生成模块—SYNC | 第39页 |
| ·CMOS 帧初始化模块—FRAME | 第39-40页 |
| ·COMS 行初始化模块—ROW | 第40页 |
| ·像素采集控制模块—COL | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 5 非辐射区系统设计 | 第42-67页 |
| ·非辐射区电路设计 | 第42-50页 |
| ·AD 转换电路设计 | 第43-45页 |
| ·RAM 电路设计 | 第45-46页 |
| ·编码电路设计 | 第46-47页 |
| ·USB 电路设计 | 第47-49页 |
| ·FPGA 电路设计 | 第49-50页 |
| ·电源电路设计 | 第50页 |
| ·FPGA 控制程序 | 第50-62页 |
| ·数据采样时钟生成模块—PLL | 第51-52页 |
| ·图像数据提取模块—RECEIVER | 第52-55页 |
| ·USB 数据传输模块—USB | 第55-59页 |
| ·存储编码显示控制模块—RAM_BT856 | 第59-62页 |
| ·CY7C68013 程序设计 | 第62-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 6 结论 | 第67-73页 |
| ·系统功能测试与分析 | 第68页 |
| ·耐辐射性测试与分析 | 第68-71页 |
| ·系统信噪比测量 | 第71页 |
| ·总结 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第75页 |
