0.18um SiGe BiCMOS工艺与器件的若干研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-11页 |
| ·SiGe技术国内外发展动态 | 第9-11页 |
| 第二章 双极型晶体管与MOS器件原理 | 第11-34页 |
| ·半导体的基本知识 | 第11-13页 |
| ·硅半导体中载流子的输运 | 第13-16页 |
| ·漂移电流与迁移率 | 第13-14页 |
| ·扩散电流与扩散系数 | 第14-16页 |
| ·PN结,突变PN结 | 第16-18页 |
| ·双极型晶体管器件原理 | 第18-27页 |
| ·SiBipolar晶体管器件原理 | 第18-21页 |
| ·SiGe HBT晶体管器件原理 | 第21-27页 |
| ·MOS器件物理知识 | 第27-34页 |
| ·MOS器件原理 | 第27-31页 |
| ·MOSFET的I-V特性 | 第31-34页 |
| 第三章 高频器件应用市场分析 | 第34-43页 |
| ·应用市场分析 | 第34-38页 |
| ·SiGe BiCMOS工艺初探 | 第38-43页 |
| 第四章 Si BiCMOS器件建模与工艺开发 | 第43-48页 |
| ·Si BiCMOS工艺方案的选择 | 第43-45页 |
| ·Si BJT器件工艺验证与模拟分析 | 第45-48页 |
| 第五章 Si BiCMOS器件测试与电性分析 | 第48-50页 |
| 第六章 SiGe HBT的性能分析及其设计依据 | 第50-54页 |
| ·集电极的设计 | 第50页 |
| ·基极的设计 | 第50页 |
| ·发射极的设计 | 第50-51页 |
| ·SiGe HBT版图设计 | 第51-54页 |
| 第七章 SiGe HBT器件测试与电性分析 | 第54-57页 |
| ·器件的DC测试结果分析 | 第54-55页 |
| ·器件的AC测试结果分析 | 第55-57页 |
| 第八章 结束语 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |