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0.18um SiGe BiCMOS工艺与器件的若干研究

摘要第1-3页
Abstract第3-9页
第一章 绪论第9-11页
     ·SiGe技术国内外发展动态第9-11页
第二章 双极型晶体管与MOS器件原理第11-34页
   ·半导体的基本知识第11-13页
   ·硅半导体中载流子的输运第13-16页
       ·漂移电流与迁移率第13-14页
       ·扩散电流与扩散系数第14-16页
   ·PN结,突变PN结第16-18页
   ·双极型晶体管器件原理第18-27页
     ·SiBipolar晶体管器件原理第18-21页
     ·SiGe HBT晶体管器件原理第21-27页
   ·MOS器件物理知识第27-34页
     ·MOS器件原理第27-31页
     ·MOSFET的I-V特性第31-34页
第三章 高频器件应用市场分析第34-43页
   ·应用市场分析第34-38页
     ·SiGe BiCMOS工艺初探第38-43页
第四章 Si BiCMOS器件建模与工艺开发第43-48页
   ·Si BiCMOS工艺方案的选择第43-45页
   ·Si BJT器件工艺验证与模拟分析第45-48页
第五章 Si BiCMOS器件测试与电性分析第48-50页
第六章 SiGe HBT的性能分析及其设计依据第50-54页
     ·集电极的设计第50页
     ·基极的设计第50页
     ·发射极的设计第50-51页
     ·SiGe HBT版图设计第51-54页
第七章 SiGe HBT器件测试与电性分析第54-57页
     ·器件的DC测试结果分析第54-55页
     ·器件的AC测试结果分析第55-57页
第八章 结束语第57-58页
参考文献第58-59页
致谢第59-61页

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