| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| ·课题来源及研究意义 | 第9-11页 |
| ·三维面形测量方法的分类及发展情况 | 第11-15页 |
| ·三维面形测量方法的分类 | 第11页 |
| ·接触式测量方法 | 第11-12页 |
| ·非接触式测量方法 | 第12-15页 |
| ·光学三维测量技术的应用领域及发展趋势 | 第15-18页 |
| ·物体表面三维面形测量的应用领域 | 第15-16页 |
| ·物体表面三维面形的发展趋势及需要解决的问题 | 第16-18页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第18-19页 |
| ·小结 | 第19-20页 |
| 第2章 光栅投影相位法的原理 | 第20-33页 |
| ·光栅投影相位法的原理 | 第20-25页 |
| ·相位测量法的数学模型 | 第20-21页 |
| ·相位测量法的原理介绍 | 第21-23页 |
| ·光栅投影相位法测量的具体步骤 | 第23-24页 |
| ·光栅投影相位法的计算机模拟实验 | 第24-25页 |
| ·光栅投影相位法的分类 | 第25-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第3章 光栅投影三维面形测量系统的设计 | 第33-48页 |
| ·系统硬件设计 | 第33-36页 |
| ·投影光栅 | 第34-35页 |
| ·CCD摄像机的选取 | 第35页 |
| ·图像采集卡的选取 | 第35-36页 |
| ·系统软件设计 | 第36-38页 |
| ·软件部分的组成 | 第36-37页 |
| ·软件部分的程序编写 | 第37-38页 |
| ·系统标定 | 第38-41页 |
| ·系统标定方法 | 第38-39页 |
| ·误差分析 | 第39-41页 |
| ·图像的预处理 | 第41-46页 |
| ·灰度化处理 | 第42页 |
| ·图像降噪处理 | 第42-46页 |
| ·小结 | 第46-48页 |
| 第4章 相位展开的残差与质量图 | 第48-58页 |
| ·二维相位展开问题的基本假设 | 第48页 |
| ·残差 | 第48-50页 |
| ·残差定理 | 第50-52页 |
| ·质量图 | 第52-57页 |
| ·常用质量图 | 第52-54页 |
| ·结合边缘检测的导数偏差相关质量图 | 第54-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第5章 相位展开方法的研究 | 第58-74页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·相位展开的原理 | 第59-62页 |
| ·传统相位展开方法 | 第62-66页 |
| ·基于边缘检测的导数偏差相关质量图的质量导引相位展开算法 | 第66-73页 |
| ·算法原理 | 第67-68页 |
| ·模拟数据相位展开 | 第68-70页 |
| ·实际数据相位展开 | 第70-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 总结 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79页 |