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多核架构下JTAG调试的研究与设计

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第1章 绪论第8-14页
    1.1 引言第8页
    1.2 课题背景和意义第8-10页
        1.2.1 嵌入式系统的可调试性第8-9页
        1.2.2 多核 SOC 发展对调试架构的影响第9页
        1.2.3 多核嵌入式调试技术的挑战第9-10页
    1.3 多核调试技术的国内外研究现状第10-12页
    1.4 课题主要研究内容第12-13页
        1.4.1 课题应用背景第12页
        1.4.2 课题研究内容第12-13页
    1.5 本文组织结构第13-14页
第2章 多核 JTAG 调试技术研究第14-24页
    2.1 JTAG 技术简介第14-20页
        2.1.1 JTAG 的边界扫描技术第14-15页
        2.1.2 JTAG 寄存器第15-16页
        2.1.3 TAP 控制器第16-18页
        2.1.4 JTAG 电路结构第18-20页
    2.2 基于 JTAG 的多核调试方法研究第20-23页
        2.2.1 菊花链(daisy-chain)连接第21-22页
        2.2.2 TLM(TAP Linking Module)连接方法第22页
        2.2.3 并行多 TAP 控制器互连调试第22-23页
    2.3 本章小结第23-24页
第3章 PowerPC476 四核平台 JTAG 调试方案的研究与设计第24-42页
    3.1 PowerPC476 多核平台介绍第24-27页
        3.1.1 PowerPC 多核平台系统第24-25页
        3.1.2 PLB 总线简介第25-27页
        3.1.3 多核平台主要配置参数第27页
    3.2 PowerPC476 多核调试方案第27-37页
        3.2.1 多核 JTAG 同步调试方案第28-29页
        3.2.2 PowerPC476 多核同步调试原理第29-32页
        3.2.3 与指令流水有关的多核调试原理第32-34页
        3.2.4 PowerPC476 多核多 TAP 调试方案第34-37页
    3.3 PowerPC476 的多核调试验证第37-41页
    3.4 本章小结第41-42页
第4章 多核实时 Trace 的研究与设计第42-52页
    4.1 Trace 调试原理研究第42-46页
        4.1.1 Trace 系统工作原理第42-43页
        4.1.2 Trace 的事件识别与触发第43-44页
        4.1.3 Trace 的外部接口第44-45页
        4.1.4 片上 Trace 逻辑与总线分析第45-46页
    4.2 多核 Trace 的调试方案第46-47页
    4.3 Trace 的程序代码重建复现第47-51页
    4.4 本章小结第51-52页
结论第52-53页
参考文献第53-58页
致谢第58-59页
个人简历第59页

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