用于微加速度计电容自校准电路的逐次逼近ADC设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 微加速度计简介 | 第8-10页 |
| 1.2 课题来源及研究内容 | 第10-12页 |
| 1.3 逐次逼近 ADC 的国内外发展现状 | 第12-14页 |
| 1.4 论文的主要工作和结构安排 | 第14-15页 |
| 第2章 逐次逼近 ADC 的工作原理及结构选取 | 第15-25页 |
| 2.1 逐次逼近 ADC 的工作原理 | 第15-16页 |
| 2.2 逐次逼近 ADC 的结构选取 | 第16-22页 |
| 2.2.1 电压定标式逐次逼近 ADC | 第16-17页 |
| 2.2.2 电流定标式逐次逼近 ADC | 第17-18页 |
| 2.2.3 混合结构逐次逼近 ADC | 第18-19页 |
| 2.2.4 电荷定标式逐次逼近 ADC | 第19-22页 |
| 2.3 逐次逼近 ADC 的性能指标 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 逐次逼近 ADC 的设计分析 | 第25-36页 |
| 3.1 电荷再分配 DAC 的工作原理分析 | 第25-27页 |
| 3.2 高速高精度比较器分析 | 第27-32页 |
| 3.2.1 开环比较器 | 第27页 |
| 3.2.2 锁存比较器 | 第27-29页 |
| 3.2.3 高速高精度比较器 | 第29-30页 |
| 3.2.4 比较器失调校准技术 | 第30-32页 |
| 3.3 其他影响逐次逼近 ADC 精度的因素 | 第32-35页 |
| 3.3.1 开关的非理想因素 | 第32-34页 |
| 3.3.2 噪声因素 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-36页 |
| 第4章 逐次逼近 ADC 的电路设计及仿真 | 第36-53页 |
| 4.1 DAC 的设计和仿真 | 第36-40页 |
| 4.1.1 单位电容的选取 | 第36-37页 |
| 4.1.2 开关的设计 | 第37-38页 |
| 4.1.3 DAC 电路设计和仿真 | 第38-40页 |
| 4.2 比较器的设计和仿真 | 第40-47页 |
| 4.2.1 比较器整体结构的选取 | 第40-41页 |
| 4.2.2 第一级运放设计 | 第41-42页 |
| 4.2.3 第二、三级运放设计 | 第42-45页 |
| 4.2.4 lanch 级设计 | 第45-47页 |
| 4.2.5 比较器整体设计和仿真 | 第47页 |
| 4.3 数字控制电路设计 | 第47-51页 |
| 4.4 逐次逼近 ADC 系统仿真 | 第51-52页 |
| 4.4.1 静态性能仿真 | 第51页 |
| 4.4.2 动态性能仿真 | 第51-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 个人简历 | 第61页 |
