| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 主要研究内容的国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 主要研究内容的国内研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 主要研究内容的国外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 研究内容和安排 | 第14-16页 |
| 2 厚膜功率电路键合可靠性 | 第16-24页 |
| 2.1 厚膜功率电路可靠性要求 | 第16-18页 |
| 2.2 厚膜功率电路键合可靠性问题 | 第18-19页 |
| 2.3 键合可靠性试验方法 | 第19-23页 |
| 2.3.1 键合拉力测试 | 第19-21页 |
| 2.3.2 键合剪切力测试 | 第21-22页 |
| 2.3.3 键合热应力测试 | 第22页 |
| 2.3.4 键合老炼测试 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 厚膜功率电路键合工艺技术 | 第24-30页 |
| 3.1 引线键合工艺技术概述 | 第24-25页 |
| 3.2 引线键合材料概述 | 第25-27页 |
| 3.3 厚膜功率电路键合技术 | 第27-28页 |
| 3.3.1 金带键合技术 | 第27页 |
| 3.3.2 粗铝丝键合技术 | 第27-28页 |
| 3.3.3 铝带键合技术 | 第28页 |
| 3.3.4 铜丝键合技术 | 第28页 |
| 3.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 4 功率外壳键合可靠性试验 | 第30-38页 |
| 4.1 试验方案 | 第30-31页 |
| 4.1.1 三种功率外壳简介 | 第30页 |
| 4.1.2 常规镀Au引线外壳键合可靠性试验方案 | 第30-31页 |
| 4.1.3 薄Au层引线外壳键合可靠性试验方案 | 第31页 |
| 4.1.4 厚镀Ni引线外壳键合可靠性试验方案 | 第31页 |
| 4.2 试验设备 | 第31-33页 |
| 4.3 试验材料和工具 | 第33-35页 |
| 4.3.1 铝丝材料 | 第33页 |
| 4.3.2 外壳材料 | 第33-35页 |
| 4.3.3 试验工具 | 第35页 |
| 4.4 粗铝丝键合质量检验 | 第35-37页 |
| 4.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 5 试验结果和分析 | 第38-53页 |
| 5.1 3种功率外壳键合参数试验 | 第38-42页 |
| 5.1.1 常规镀Au引线外壳键合参数试验 | 第38-41页 |
| 5.1.2 薄镀Au层引线外壳键合参数试验 | 第41-42页 |
| 5.1.3 厚镀Ni层引线外壳键合参数试验 | 第42页 |
| 5.2 3种功率外壳可承受的筛选条件试验 | 第42-46页 |
| 5.2.1 温度循环试验 | 第43页 |
| 5.2.2 机械冲击试验 | 第43页 |
| 5.2.3 恒定加速度试验 | 第43页 |
| 5.2.4 稳定性烘焙试验 | 第43-45页 |
| 5.2.5 筛选试验结果 | 第45-46页 |
| 5.3 3种功率外壳加电老炼试验 | 第46-50页 |
| 5.3.1 粗铝丝最大安全工作电流的确认 | 第46页 |
| 5.3.2 粗丝外引线老炼试验 | 第46-49页 |
| 5.3.3 老炼试验结果 | 第49-50页 |
| 5.4 3种功率外壳使用不同粗丝数量、电流下的对应壳温 | 第50页 |
| 5.5 可靠性相关的其它试验 | 第50-52页 |
| 5.5.1 引线柱尺寸对粗丝键合的影响试验 | 第50-51页 |
| 5.5.2 绝缘环氧对粗丝键合可靠性的影响 | 第51页 |
| 5.5.3 镍层氧化对键合可靠性的影响 | 第51-52页 |
| 5.6 本章小结 | 第52-53页 |
| 6 结论 | 第53-57页 |
| 攻读学位期间获奖和发表论文情况 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |