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GaN/AlGaN多量子阱薄膜微结构与光电性能研究

摘要第4-6页
Abstract第6-8页
目录第9-14页
第1章 绪论第14-34页
    1.1 III 族氮化物材料及器件研究的目的及意义第14-16页
    1.2 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜的特性第16-20页
        1.2.1 材料结构特性第16-17页
        1.2.2 能带结构特性第17-20页
    1.3 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜国内外研究现状第20-33页
        1.3.1 关于 GaN/AlGaN 量子阱子带跃迁的研究第21-22页
        1.3.2 关于 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜生长的研究第22-33页
    1.4 本论文的主要研究内容第33-34页
第2章 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜的制备和测试方法第34-53页
    2.1 多量子阱薄膜的制备第34-43页
        2.1.1 MOCVD 制备技术原理第34-35页
        2.1.2 MOCVD 的生长工艺第35-39页
        2.1.3 MOCVD 的影响因素第39-40页
        2.1.4 样品的制备过程第40-43页
    2.2 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜的表征方法第43-53页
        2.2.1 高分辨 X 射线衍射(High Resolution X-ray Diffraction, HRXRD)第43-44页
        2.2.2 原子力显微镜(Atomic Force microscopy , AFM)第44-45页
        2.2.3 扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM)和阴极荧光技术(Cathodoluminescence,CL)第45-46页
        2.2.4 透射电子显微镜分析(Transmission Electron Microscopy, TEM)第46-51页
        2.2.5 电学性能的表征方法第51-52页
        2.2.6 光学性能的表征方法第52-53页
第3章 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜结构设计及生长质量研究第53-80页
    3.1 基于子带间输运的多量子阱结构设计第53-60页
        3.1.1 量子阱计算基本理论第53-55页
        3.1.2 计算结果与分析第55-60页
    3.2 生长质量的研究第60-75页
        3.2.1 薄膜表面质量分析第60-69页
        3.2.2 薄膜晶体质量分析第69-74页
        3.2.3 薄膜中位错密度的计算第74-75页
    3.3 光学及电学特性研究第75-78页
        3.3.1 薄膜紫外吸收性能分析第75-77页
        3.3.2 薄膜电学特性测试分析第77-78页
    3.4 本章小结第78-80页
第4章 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜显微结构的分析第80-111页
    4.1 外延生长关系的表征和分析第80-82页
    4.2 多量子阱周期性的研究第82页
    4.3 Z 衬度像对成分的标定第82-83页
    4.4 各层界面微观结构分析第83-91页
        4.4.1 缓冲层与衬底界面分析第83-84页
        4.4.2 插入中间层对界面的影响分析第84-86页
        4.4.3 量子阱层界面分析第86-89页
        4.4.4 量子阱层与盖层界面分析第89-91页
    4.5 界面应力分布分析第91-94页
    4.6 微观缺陷的分析第94-109页
        4.6.1 位错分析第94-105页
        4.6.2 层错分析第105-107页
        4.6.3 V 型坑分析第107-109页
    4.7 本章小结第109-111页
第5章 GaN/AlGaN 多量子阱薄膜晶体缺陷与光学性能的关系研究第111-120页
    5.1 表面缺陷对光学性能的影响第111-116页
        5.1.1 裂纹的影响第111-114页
        5.1.2 V 型坑的影响第114-115页
        5.1.3 表面位错的影响第115-116页
    5.2 子带间红外吸收特性分析第116-119页
    5.3 本章小结第119-120页
结论第120-121页
参考文献第121-131页
攻读博士学位期间发表的论文第131-133页
致谢第133-134页
个人简历第134页

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