基于半张量积的模型检验方法的研究与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 研究概况与意义 | 第11-13页 |
| 1.2.1 研究概况 | 第11-12页 |
| 1.2.2 研究意义 | 第12-13页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4 章节安排 | 第14-15页 |
| 第二章 数字硬件的设计验证 | 第15-23页 |
| 2.1 集成电路的设计层次 | 第15-17页 |
| 2.2 集成电路的验证 | 第17-22页 |
| 2.2.1 基于模拟的验证 | 第18-20页 |
| 2.2.2 形式化验证 | 第20-22页 |
| 2.3 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 矩阵半张量积理论 | 第23-29页 |
| 3.1 矩阵的半张量积 | 第23-25页 |
| 3.2 半张量积的伪交换性 | 第25-26页 |
| 3.3 逻辑的矩阵表示 | 第26-28页 |
| 3.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 结构矩阵的改进与应用 | 第29-47页 |
| 4.1 布尔网络的矩阵表达 | 第29-33页 |
| 4.1.1 布尔网络简介 | 第29页 |
| 4.1.2 布尔网络的矩阵形式 | 第29-33页 |
| 4.2 结构矩阵求解新方法 | 第33-37页 |
| 4.2.1 状态向量 | 第33-34页 |
| 4.2.2 状态矩阵与求解 | 第34-37页 |
| 4.3 结构矩阵在布尔网络模型中的应用 | 第37-43页 |
| 4.3.1 布尔网络的拓扑特征 | 第38-39页 |
| 4.3.2 不动点和极限环 | 第39-40页 |
| 4.3.3 应用实例分析 | 第40-43页 |
| 4.4 结构矩阵的乘方运算 | 第43-44页 |
| 4.5 通过结构矩阵反向建立布尔函数 | 第44-46页 |
| 4.6 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 基于半张量积的模型检验建模方法 | 第47-67页 |
| 5.1 模型检验的简介 | 第47-48页 |
| 5.2 电路的模型表示 | 第48-53页 |
| 5.2.1 网表表示法 | 第48-49页 |
| 5.2.2 方程表示法 | 第49-50页 |
| 5.2.3 自动机表示法 | 第50-51页 |
| 5.2.4 Kripke结构 | 第51-53页 |
| 5.3 基于半张量积的模型描述 | 第53-63页 |
| 5.3.1 对组合电路的描述 | 第53-55页 |
| 5.3.2 对同步时序电路的描述 | 第55-59页 |
| 5.3.3 基于半张量积的模型分析 | 第59-63页 |
| 5.4 模型的提取与建立 | 第63-66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 基于半张量积的属性描述与验证方法 | 第67-75页 |
| 6.1 两种常用的属性描述与验证 | 第67-68页 |
| 6.1.1 基于CTL的描述与验证 | 第67-68页 |
| 6.1.2 基于自动机的描述与验证 | 第68页 |
| 6.1.3 需要验证的性质分类 | 第68页 |
| 6.2 基于半张量积的属性描述与基本验证方法 | 第68-72页 |
| 6.2.1 属性描述 | 第68-70页 |
| 6.2.2 行为验证方案 | 第70-71页 |
| 6.2.3 安全性与活性验证方案 | 第71-72页 |
| 6.3 案例分析 | 第72-74页 |
| 6.3.1 属性说明 | 第72-73页 |
| 6.3.2 验证 | 第73-74页 |
| 6.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 第七章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 7.1 总结 | 第75-76页 |
| 7.1.1 主要研究成果和创新 | 第75-76页 |
| 7.1.2 研究中的不足之处 | 第76页 |
| 7.2 展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-81页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第81-82页 |
