| 致谢 | 第5-7页 |
| 摘要 | 第7-9页 |
| Abstract | 第9-11页 |
| 目录 | 第12-17页 |
| 图目录 | 第17-23页 |
| 表目录 | 第23-24页 |
| 第1章 绪论 | 第24-37页 |
| 1.1 以太网供电技术概述 | 第24-27页 |
| 1.1.1 以太网供电技术原理 | 第24-27页 |
| 1.1.2 以太网供电技术的优点 | 第27页 |
| 1.2 以太网供电的工作过程 | 第27-29页 |
| 1.3 课题背景 | 第29-30页 |
| 1.4 研究内容 | 第30-32页 |
| 1.4.1 针对高性能电压基准的研究 | 第31页 |
| 1.4.2 针对受电设备接口芯片的研究 | 第31页 |
| 1.4.3 针对反激转换器控制芯片的研究 | 第31-32页 |
| 1.4.4 针对悬浮式buck转换器控制芯片的研究 | 第32页 |
| 1.4.5 基于IEEE 802.3at标准的受电设备接口芯片预研究 | 第32页 |
| 1.5 论文的组成和安排 | 第32-33页 |
| 1.6 主要创新 | 第33-37页 |
| 1.6.1 高阶温度补偿电压基准技术的创新 | 第33-34页 |
| 1.6.2 高PSR电压基准技术的创新 | 第34页 |
| 1.6.3 电压检测电路的创新 | 第34-35页 |
| 1.6.4 高精度限流电路的创新 | 第35页 |
| 1.6.5 高可靠性开关电源控制器的创新 | 第35-36页 |
| 1.6.6 高精度电平转换器的创新 | 第36-37页 |
| 第2章 高性能带隙电压基准设计 | 第37-59页 |
| 2.1 带隙电压基准在受电设备芯片中的作用 | 第37-38页 |
| 2.2 传统带隙基准设计 | 第38-42页 |
| 2.2.1 Widlar带隙基准 | 第38-39页 |
| 2.2.2 Kuijk带隙基准 | 第39-41页 |
| 2.2.3 Brokaw带隙基准 | 第41-42页 |
| 2.3 高阶温度补偿带隙基准 | 第42-51页 |
| 2.3.1 低温漂带隙基准研究进展 | 第42-43页 |
| 2.3.2 高阶温度补偿带隙基准原理 | 第43-49页 |
| 2.3.3 修调电路设计 | 第49-51页 |
| 2.4 高PSR次温度补偿带隙基准 | 第51-59页 |
| 2.4.1 高PSR带隙基准原理 | 第51-56页 |
| 2.4.2 二次温度补偿原理 | 第56-59页 |
| 第3章 受电设备接口芯片设计 | 第59-93页 |
| 3.1 受电设备构成 | 第59-61页 |
| 3.2 检测功能 | 第61-67页 |
| 3.2.1 检测功能实现方案 | 第61-62页 |
| 3.2.2 检测功能电路实现 | 第62-64页 |
| 3.2.3 检测功能电路仿真 | 第64-67页 |
| 3.3 分级功能实现 | 第67-72页 |
| 3.3.1 分级功能实现方案 | 第67-69页 |
| 3.3.2 分级功能电路实现 | 第69-70页 |
| 3.3.3 分级稳压器仿真 | 第70-72页 |
| 3.4 限流功能 | 第72-79页 |
| 3.4.1 限流实现方案 | 第72-73页 |
| 3.4.2 限流实现电路 | 第73-76页 |
| 3.4.3 限流电路仿真 | 第76-79页 |
| 3.5 断开功能 | 第79-81页 |
| 3.6 辅助模块设计 | 第81-85页 |
| 3.6.1 电压基准和电流基准 | 第81-83页 |
| 3.6.2 过温保护电路 | 第83-85页 |
| 3.7 系统逻辑时序设计 | 第85-87页 |
| 3.8 系统仿真 | 第87-93页 |
| 3.8.1 接口芯片仿真平台 | 第87-88页 |
| 3.8.2 启动仿真 | 第88-89页 |
| 3.8.3 限流仿真 | 第89-90页 |
| 3.8.4 断开连接仿真 | 第90-91页 |
| 3.8.5 芯片仿真参数总结 | 第91-93页 |
| 第4章 高压高可靠性反激转换器控制芯片设计 | 第93-125页 |
| 4.1 反激转换器基础 | 第93-95页 |
| 4.2 受电设备的应用安全性问题 | 第95-97页 |
| 4.3 软启动与故障保护方案设计 | 第97-103页 |
| 4.3.1 软启动电路 | 第98-99页 |
| 4.3.2 过流保护和故障保护电路 | 第99-102页 |
| 4.3.3 欠压保护和过压保护电路 | 第102-103页 |
| 4.4 其它模块电路设计 | 第103-115页 |
| 4.4.1 稳压器 | 第103-107页 |
| 4.4.2 电压基准和电流基准 | 第107-108页 |
| 4.4.3 振荡器 | 第108-110页 |
| 4.4.4 高速比较器 | 第110-111页 |
| 4.4.5 驱动器 | 第111-112页 |
| 4.4.6 PWM/PSM模块 | 第112-113页 |
| 4.4.7 前沿消隐电路 | 第113-115页 |
| 4.5 峰值电流型反激转换器的小信号分析 | 第115-122页 |
| 4.5.1 峰值电流型控制的优点 | 第115-116页 |
| 4.5.2 反激转换器的功率级建模 | 第116-118页 |
| 4.5.3 反激转换器的峰值电流环建模 | 第118-120页 |
| 4.5.4 反激转换器的补偿网络 | 第120-122页 |
| 4.6 反激转换器的系统仿真 | 第122-125页 |
| 第5章 悬浮式buck转换器的控制芯片设计 | 第125-144页 |
| 5.1 buck转换器基础 | 第125-127页 |
| 5.2 悬浮式buck转换器优点 | 第127-129页 |
| 5.3 电平转换器电路设计 | 第129-133页 |
| 5.3.1 电平转换器电路原理 | 第129-131页 |
| 5.3.2 电平转换器仿真 | 第131-133页 |
| 5.4 控制器芯片的复用设计 | 第133-135页 |
| 5.5 悬浮式buck转换器的小信号分析 | 第135-140页 |
| 5.5.1 buck转换器的功率级建模 | 第135-137页 |
| 5.5.2 buck转换器的峰值电流环建模 | 第137-138页 |
| 5.5.3 悬浮式buck转换器的补偿网络 | 第138-140页 |
| 5.6 悬浮式buck转换器的系统仿真 | 第140-142页 |
| 5.7 受电设备接口和电源芯片的通讯设计 | 第142-144页 |
| 第6章 芯片测试 | 第144-160页 |
| 6.1 高阶温度补偿带隙基准芯片测试 | 第144-147页 |
| 6.2 高PSR二次温度补偿带隙基准芯片测试 | 第147-149页 |
| 6.3 接口芯片测试 | 第149-151页 |
| 6.4 反激转换器测试 | 第151-155页 |
| 6.5 悬浮式buck转换器测试 | 第155-158页 |
| 6.6 受电设备测试 | 第158-160页 |
| 第7章 基于IEEE 802.3at标准的受电设备接口芯片预研 | 第160-167页 |
| 7.1 IEEE 802.3at标准简介 | 第160-161页 |
| 7.2 基于IEEE 802.3at标准的以太网供电工作过程 | 第161-162页 |
| 7.3 基于IEEE 802.3at标准的受电设备接口芯片系统设计 | 第162-167页 |
| 第8章 总结与展望 | 第167-171页 |
| 8.1 研究总结 | 第167-168页 |
| 8.2 存在的问题 | 第168-169页 |
| 8.2.1 开关电源控制器的效率问题 | 第168页 |
| 8.2.2 斜坡补偿问题 | 第168-169页 |
| 8.2.3 分立芯片的应用成本问题 | 第169页 |
| 8.3 未来工作与展望 | 第169-171页 |
| 8.3.1 基于IEEE 802.3at标准的受电设备芯片研究 | 第169页 |
| 8.3.2 高效率开关电源控制器的效率提升 | 第169页 |
| 8.3.3 新型斜坡补偿技术的研究 | 第169-170页 |
| 8.3.4 芯片的整合 | 第170-171页 |
| 参考文献 | 第171-176页 |
| 作者简历及在攻读博士学位期间主要研究成果 | 第176-177页 |
