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多路静电保护TVS阵列的低电容高浪涌研究及仿真设计

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-14页
    1.1 课题背景第8-9页
    1.2 器件研究的国内外发展状况第9-12页
        1.2.1 静电浪涌保护器件国内外发展状况第9-11页
        1.2.2 软件仿真国内外发展状况第11-12页
    1.3 论文的主要工作和内容安排第12-13页
    1.4 本章小结第13-14页
第2章 TVS保护器件的工作原理及失效机理第14-26页
    2.1 静电及浪涌防护的标准及测试方法第14-18页
        2.1.1 静电放电模型第14-15页
        2.1.2 IEC61000标准第15-16页
        2.1.3 静电及浪涌测试方法第16-18页
    2.2 TVS器件的工作原理第18-20页
        2.2.1 TVS工作原理第18-19页
        2.2.2 雪崩击穿第19-20页
    2.3 静电及浪涌的失效机理第20-24页
        2.3.1 静电及浪涌的失效模式第21页
        2.3.2 静电及浪涌的失效机理第21-24页
    2.4 本章小结第24-26页
第3章 低电容TVS器件结构的软件仿真第26-46页
    3.1 软件仿真在集成电路中的应用第26-29页
        3.1.1 常用仿真软件第26-27页
        3.1.2 版图设计软件第27-28页
        3.1.3 工艺和器件仿真软件第28-29页
    3.2 降低TVS电容的设计方案第29-36页
        3.2.1 常规电容TVS器件第29页
        3.2.2 并联串联二极管方式降低TVS电容第29-32页
        3.2.3 单芯片实现多路低电容TVS第32-36页
    3.3 低电容TVS版图设计与验证第36-41页
        3.3.1 版图仿真设计第36-38页
        3.3.2 版图DRC验证第38-41页
    3.4 低电容TVS结构仿真第41-45页
    3.5 本章小结第45-46页
第4章 低电容TVS器件性能的软件仿真与改进第46-58页
    4.1 低电容TVS器件的性能仿真第46-51页
    4.2 低电容TVS器件仿真结果改进第51-52页
    4.3 低电容TVS的实现第52-56页
        4.3.1 低电容TVS的工艺实现第52-53页
        4.3.2 低电容TVS的参数验证第53-56页
    4.4 本章小结第56-58页
第5章 低电容TVS器件的抗浪涌能力优化第58-66页
    5.1 双芯片封装结构第58-60页
    5.2 双芯片TVS器件的参数验证第60-64页
    5.3 本章小结第64-66页
结论第66-68页
参考文献第68-72页
附录第72-76页
致谢第76页

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