| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-12页 |
| 1.1.1 智能功率驱动芯片概述 | 第9-10页 |
| 1.1.2 智能功率驱动芯片中的栅驱动技术 | 第10-11页 |
| 1.1.3 研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.2 发展趋势 | 第15页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第15-16页 |
| 1.4 论文的结构 | 第16-19页 |
| 第二章 基于温度自适应调节的栅驱动技术理论分析 | 第19-41页 |
| 2.1 功率器件IGBT概述 | 第19-24页 |
| 2.1.1 IGBT器件结构研究 | 第19-21页 |
| 2.1.2 IGBT器件参数温度特性分析 | 第21-24页 |
| 2.2 IGBT开关特性 | 第24-30页 |
| 2.2.1 IGBT开关过程分析 | 第24-27页 |
| 2.2.2 IGBT开关过冲分析 | 第27-29页 |
| 2.2.3 IGBT开关损耗分析 | 第29-30页 |
| 2.3 宽温度范围内传统栅驱动技术存在的问题 | 第30-33页 |
| 2.4 宽温度范围内栅驱动技术研究 | 第33-39页 |
| 2.4.1 宽温度范围内栅驱动电路设计面临的挑战及应对方案 | 第33-38页 |
| 2.4.2 栅驱动技术实现方式小结 | 第38-39页 |
| 2.5 本章小结 | 第39-41页 |
| 第三章 基于温度自适应调节的栅驱动技术设计 | 第41-69页 |
| 3.1 基于温度自适应调节的栅驱动技术原理及电路架构 | 第41-44页 |
| 3.1.1 基于温度自适应调节的栅驱动技术原理 | 第41-43页 |
| 3.1.2 基于温度自适应调节的栅驱动技术电路架构 | 第43-44页 |
| 3.2 基于温度自适应调节的栅驱动电路设计 | 第44-64页 |
| 3.2.1 温度补偿电路设计 | 第44-51页 |
| 3.2.2 检测电路设计 | 第51-58页 |
| 3.2.3 逻辑控制电路设计 | 第58-61页 |
| 3.2.4 输出调节电路设计 | 第61-64页 |
| 3.3 整体电路仿真与分析 | 第64-68页 |
| 3.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第四章 版图设计与测试验证 | 第69-79页 |
| 4.1 芯片版图设计 | 第69-71页 |
| 4.2 流片结果与测试验证 | 第71-77页 |
| 4.2.1 测试条件 | 第72页 |
| 4.2.2 测试方法 | 第72-73页 |
| 4.2.3 测试结果 | 第73-77页 |
| 4.3 本章小结 | 第77-79页 |
| 第五章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-89页 |
| 硕士阶段获得的研究成果 | 第89页 |
